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1、該文對納米材料的定義、結(jié)構(gòu)特征及應(yīng)用和中國納米材料發(fā)展的現(xiàn)狀作了較全面的介紹:對薄膜的制備、結(jié)構(gòu)、特征進行了介紹和討論;還詳細介紹了測量材料光學(xué)性質(zhì)的儀器——橢圓光譜偏振儀的結(jié)構(gòu)原理及數(shù)據(jù)的處理方法.該論文研究的主要內(nèi)容包含有:1.常溫和77K溫度Si襯底上C60薄膜的制備,以及這兩種薄膜的表面結(jié)構(gòu)及光學(xué)性質(zhì)的比較研究.光學(xué)參數(shù)主要由橢偏儀測量.2.常溫和77K溫度玻璃襯底上金屬(Ag、Cu)薄膜的制備,以及常溫和77K玻璃襯底上Ag薄
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