雙能量X射線無(wú)損探測(cè)器的研究.pdf

1、目前X射線無(wú)損檢測(cè)方法包括單能量X射線檢測(cè)方法和雙能量X射線檢測(cè)方法。單能量X射線檢測(cè)方法是將單一能量的X射線穿透被測(cè)物體，利用不同物質(zhì)對(duì)X射線衰減不同，實(shí)現(xiàn)對(duì)物體的無(wú)損檢測(cè)。由于單能量X射線檢測(cè)是將被檢物體內(nèi)部同一檢測(cè)點(diǎn)的各物質(zhì)的影像疊加在一起，所以對(duì)復(fù)雜物體的成像質(zhì)量不高。雙能量X射線檢測(cè)方法是將高、低兩種能量的X射線穿透被測(cè)物體，利用不同物質(zhì)對(duì)不同能量X射線衰減系數(shù)不同，可以得到兩幅具有不同光密度分布的透射物體圖像，通過(guò)圖像處理，

2、能夠得到高質(zhì)量的被檢物體圖像。
　　 本文設(shè)計(jì)了一種X射線無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)中雙能量X射線無(wú)損探測(cè)器。分析了無(wú)損檢測(cè)技術(shù)及雙能量X射線檢測(cè)原理，提出了雙能量X射線探測(cè)器的設(shè)計(jì)方案；采用Xilinx公司FPGA芯片Spartan-3E設(shè)計(jì)了探測(cè)器硬件電路，包括ADC硬件電路、FPGA控制電路、X射線探測(cè)卡、電源電路等部分；利用FPGA嵌入式系統(tǒng)開(kāi)發(fā)工具EDK，搭建了基于32位軟核處理器的嵌入式系統(tǒng)，設(shè)計(jì)了探測(cè)器的軟件，實(shí)現(xiàn)了對(duì)X光信號(hào)的