基于事務(wù)驗(yàn)證方法在PMON項(xiàng)目中的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn).pdf

1、當(dāng)今ASIC設(shè)計(jì)因其后端工藝的不斷進(jìn)步(從0.35微米到0.10微米甚至0.08微米技術(shù))而規(guī)模越來越大,在今后的近十年里,電子產(chǎn)業(yè)仍將遵循摩爾定律的速度增長.但是隨著ASIC設(shè)計(jì)規(guī)模的增大,其相應(yīng)前端驗(yàn)證的難度、復(fù)雜度將以幾何級(jí)數(shù)的速度增加.當(dāng)今ASIC前端驗(yàn)證已經(jīng)成為整個(gè)ASIC設(shè)計(jì)流程中耗時(shí)長、難度大卻又十分關(guān)鍵的階段.ASIC前端驗(yàn)證已經(jīng)建立了一套完備的理論,但是因?yàn)樯虡I(yè)利益等各方面的原因,其實(shí)現(xiàn)上尚有諸多不足.近年來Cande

2、nce公司推出了專門用于驗(yàn)證的C++工具庫:Testbuilder.Testbuilder將軟件設(shè)計(jì)中的面向?qū)ο笤O(shè)計(jì)思想與ASIC前端驗(yàn)證中基于事務(wù)的驗(yàn)證思想完美結(jié)合,加之其全開放、免費(fèi)的驗(yàn)證環(huán)境,使之成為了當(dāng)今業(yè)界最流行的驗(yàn)證方式之一.本論文將在介紹前端驗(yàn)證基本理論的基礎(chǔ)上,著重介紹如何利用testbuilder在搭建驗(yàn)證環(huán)境方面的諸多優(yōu)勢,結(jié)合PMON項(xiàng)目原有的驗(yàn)證方案,提出了一種新的驗(yàn)證方案,并以實(shí)際的驗(yàn)證舉例進(jìn)行具體說明.第一章

3、為緒論,主要介紹ASIC開發(fā)流程以及前端驗(yàn)證的基本理論,并重點(diǎn)介紹了基于事務(wù)驗(yàn)證的基本概念及其流程,從而引出基于事務(wù)驗(yàn)證的解決方案testbuilder.第二章介紹如何結(jié)合testbuilder的優(yōu)點(diǎn),將現(xiàn)有的驗(yàn)證方案進(jìn)行進(jìn)一步的改進(jìn),使之可以解決很多瓶頸問題,并論證了這一改進(jìn)方案的正確性與可行性.第三章將利用第二章提出的新的驗(yàn)證方案,闡述其在具體設(shè)計(jì)中的應(yīng)用,其中的三個(gè)設(shè)計(jì)舉例都是以前PMON項(xiàng)目的測試難點(diǎn),也是經(jīng)典的驗(yàn)證難點(diǎn)問題:仲