傳輸線解析有機涂層-金屬體系阻抗譜及其應(yīng)用.pdf

1、該文就目前國內(nèi)外解析有機涂層/金屬體系阻抗譜中的幾個關(guān)鍵問題,如等效電路模型的普適性與客觀性、參數(shù)隨時間變化的規(guī)律性、腐蝕產(chǎn)物和難以控制的涂層厚度對平行樣品阻抗譜重現(xiàn)性的影響、分析結(jié)果的精度與可定量的程度、參數(shù)物理意義的明確性、與界面粘結(jié)力之間的關(guān)系等,提出使用CR傳輸線系列模型是個有價值的綜合解決方案.文中論述了選用CR電路解析有機涂層/金屬體系阻抗譜的原因、文獻背景,以及對不同特征阻抗譜的通用性.尤其重要的是根據(jù)CR電路和QR電路參

2、數(shù)之間數(shù)學(xué)關(guān)系,提出了用傳輸線模型分析阻抗譜的簡單實用方法,它與傳統(tǒng)的一個過程對映一個單獨參數(shù)的概念有所不同.根據(jù)擬合誤差和參數(shù)的有關(guān)物理意義,探討了與有機涂層/金屬體系密切相關(guān)的3類典型樣品(完整的和有缺陷的涂層/金屬樣品,裸金屬基底樣品)的CR電路分析方法,結(jié)果說明使用不同結(jié)構(gòu)的CR電路,如mCRRC、mCRR可以分別得到一些僅決定于阻抗譜的特征,而與傳輸線結(jié)構(gòu)和長度m無關(guān)的一些特征參數(shù),它們具有比較明確的物理意義、精度高、隨時間變