500MHz LXI邏輯分析儀數(shù)據(jù)采集模塊硬件電路設(shè)計(jì).pdf

1、伴隨著電子技術(shù)、計(jì)算機(jī)網(wǎng)絡(luò)技術(shù)的迅速發(fā)展，測(cè)試測(cè)量?jī)x器不斷地朝著數(shù)字化和智能化方向快速發(fā)展，使得構(gòu)建大型測(cè)試系統(tǒng)的應(yīng)用需求隨之產(chǎn)生，構(gòu)建大型測(cè)試系統(tǒng)的關(guān)鍵性技術(shù)就是儀器總線技術(shù)。因此，儀器總線技術(shù)的發(fā)展就成為測(cè)試測(cè)量?jī)x器向著更大規(guī)模的測(cè)試系統(tǒng)發(fā)展的關(guān)鍵?；贚XI總線技術(shù)的測(cè)試儀器以其高可靠性、低成本、靈活緊湊、性能優(yōu)異而得到快速發(fā)展。
　　本文主要研制基于LXI總線技術(shù)的邏輯分析儀數(shù)據(jù)采集模塊的硬件電路設(shè)計(jì)，該邏輯分析儀主要用于

2、基于LXI的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，用于對(duì)數(shù)字系統(tǒng)的測(cè)試和分析，它屬于標(biāo)準(zhǔn)的LXI-A級(jí)儀器，具有較高的定時(shí)同步觸發(fā)精度、較高的數(shù)據(jù)采集速率和通道數(shù)多等特點(diǎn)。它既可單機(jī)工作，也可組成分布式測(cè)試系統(tǒng)，還可用于GPIB、VXI、PXI和LXI等多種總線儀器集成的混合分布式測(cè)試系統(tǒng)。課題要求該邏輯分析儀數(shù)據(jù)采集模塊實(shí)現(xiàn)的最高定時(shí)采樣率為500MSa/s，并具有64個(gè)數(shù)據(jù)采集通道和4個(gè)外時(shí)鐘通道。
　　本文的主要工作內(nèi)容：
　　1、探頭通道的