2023年全國碩士研究生考試考研英語一試題真題(含答案詳解+作文范文)_第1頁
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文檔簡介

1、隨著IC(Integated Circuit)設(shè)計(jì)的復(fù)雜度和規(guī)模不斷增大,基于IP(IntellecftualProperty)核復(fù)用的SoC(System On Chip)設(shè)計(jì)技術(shù)開始成為主流。而IP核的驗(yàn)證方法也是越來越受到業(yè)界的關(guān)注。選擇一種合適的驗(yàn)證技術(shù)對于很多芯片設(shè)計(jì)公司而言已經(jīng)成為了首要問題。
   圍繞這個問題,在研究了當(dāng)前主要的驗(yàn)證方法和技術(shù)的基礎(chǔ)上,本文基于在深圳國微電子有限公司的工作,提出了一種基于隨機(jī)約束激

2、勵的,以功能覆蓋率和代碼覆蓋率為目的的IP核驗(yàn)證方法。該方法是基于事務(wù)級的驗(yàn)證,以搭建總線功能模型和功能覆蓋率模型為重點(diǎn),通過完備的激勵測試,以達(dá)到驗(yàn)證方案中要求的覆蓋目標(biāo)為標(biāo)準(zhǔn),完成對IP核的驗(yàn)證。在驗(yàn)證過程中,代碼覆蓋率檢測激勵所執(zhí)行測試代碼的效率;功能覆蓋率用于檢測激勵所執(zhí)行代碼功能的效率。通過對功能覆蓋率和代碼覆蓋率兩者的結(jié)合分析,能夠提高IP核驗(yàn)證的效率和可靠性。
   本文對I2C和DMA的覆蓋率驗(yàn)證都取得了很好的效

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