小型機(jī)箱屏蔽效能測試用天線的研制.pdf

1、隨著電子設(shè)備的發(fā)展，小型化成為了一種必然的趨勢。那么研究其屏敝效能自然也就有了必要性，然而現(xiàn)有的機(jī)箱屏蔽效能測試標(biāo)準(zhǔn)大都是用于2m以上的機(jī)箱，所以0.1m-2m的小型機(jī)箱屏蔽效能測試方法已成為了電磁兼容領(lǐng)域的重要研究內(nèi)容。
　　本文是在IEEE P299.1未正式發(fā)表的前提下進(jìn)行的研究工作，主要研究內(nèi)容是小型機(jī)箱屏蔽效能測試用天線的研制，根據(jù)天線所測頻率的不同，將其分為磁場測試用天線，電場測試用天線以及半面場測試用天線。
　

2、　磁場測試用天線采用環(huán)天線的形式，其實(shí)現(xiàn)方式為點(diǎn)頻諧振方式，測試頻點(diǎn)為14kHz，50kHz和200kHz，整個研制過程包括初次級線圈的設(shè)計(jì)，匹配網(wǎng)絡(luò)的設(shè)計(jì)，PCB板的繪制，成品的調(diào)試以及最后的性能測試。
　　電場測試用天線采用桿天線的形式，仍舊采用點(diǎn)頻諧振方式，測試頻點(diǎn)為1MHz，18MHz，100MHz和400MHz，其研制過程包括匹配網(wǎng)絡(luò)的設(shè)計(jì)，諧振網(wǎng)絡(luò)的設(shè)計(jì)，PCB板的繪制，成品的調(diào)試以及性能測試。
　　平面場測試用