2023年全國碩士研究生考試考研英語一試題真題(含答案詳解+作文范文)_第1頁
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文檔簡介

1、隨著計算機和網(wǎng)絡的飛速發(fā)展,計算機在各個行業(yè)的應用越來越廣泛和深入。在大多數(shù)企業(yè)、大多數(shù)行業(yè)都存在一些關鍵的應用,這些應用必須7d*24h不間斷運行。在這樣的情況下,系統(tǒng)的高可用性就顯得尤為重要,對存儲技術也提出了更高的要求。 SAN技術由于其自身所具有的諸多優(yōu)點正在得到越來越廣泛的應用。在SAN中,數(shù)據(jù)存放在網(wǎng)絡中的存儲設備里?,F(xiàn)階段的存儲設備,是以冗余磁盤陣列RAID為主。RAID在極大地提高了數(shù)據(jù)的可靠性和安全性的同時,

2、在容錯能力方面還存在一些提升空間。 1.雖然硬件技術的發(fā)展大大提高了系統(tǒng)的可靠性,但是,由于系統(tǒng)內其它核心部件(如CPU、主板、物理內存等)的故障,應用系統(tǒng)在一年365天內還是可能出現(xiàn)44~87小時的停機時間,這就要求從更高層次、更多方面綜合考慮提高系統(tǒng)的高可用性。 2.系統(tǒng)崩潰、意外斷電或者硬盤出現(xiàn)壞道,都可能導致陣列上的數(shù)據(jù)被破壞和分條數(shù)據(jù)不一致。如果在分條數(shù)據(jù)不一致的狀態(tài)時,發(fā)生硬盤故障,陣列控制器就無法通過奇偶校

3、驗計算出正確的數(shù)據(jù),陣列將無法保證重構后的數(shù)據(jù)一致性,造成數(shù)據(jù)錯誤或丟失的嚴重的后果。 所以本文在深入研究了RAID控制器設計中的多種關鍵技術的基礎上,提出雙RAID控制器active—active的解決方案和分條校驗和修復算法。經(jīng)過對此控制器進行詳盡的功能性測試,測試結果證明本RAID控制器無論是在正常使用環(huán)境下,還是在異常情況下,都能較好地適應環(huán)境的變化,保證業(yè)務的可用性。并且雙控的設計在正常情況下還可以分擔負載,提高效率。

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