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文檔簡介
1、 本文闡述了光電特性綜合測試實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)，該系統(tǒng)可以在一個(gè)平臺(tái)上同時(shí)對發(fā)光器件及光電探測器的特性進(jìn)行測量實(shí)驗(yàn)。該系統(tǒng)基于單片機(jī)和串口通信實(shí)現(xiàn)了光電特性實(shí)驗(yàn)的計(jì)算機(jī)化，具有綜合性強(qiáng)、體積小、測量方便等特點(diǎn)，可以快速地對LED、LD和多種光電探測器的各項(xiàng)特性參數(shù)進(jìn)行測量實(shí)驗(yàn)。 該實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)的光源和探測器可以根據(jù)不同實(shí)驗(yàn)而靈活更換，探測器的輸出信號經(jīng)過放大電路后由A/D采集器在單片機(jī)的控制下進(jìn)行采集、A/D轉(zhuǎn)換，然后再經(jīng)RS-232串行通訊口
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