低溫介電溫譜測(cè)試系統(tǒng)的研發(fā)與應(yīng)用.pdf_第1頁(yè)
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1、電子材料在當(dāng)今飛速發(fā)展的高新技術(shù)領(lǐng)域發(fā)揮著越來(lái)越重要的作用,應(yīng)用領(lǐng)域不斷拓展。這就對(duì)電子材料的性能和使用范圍提出了更高的要求,相應(yīng)的對(duì)電子材料的測(cè)試手段和測(cè)試設(shè)備也提出了更高的要求。由于多數(shù)國(guó)外設(shè)備昂貴,而國(guó)內(nèi)設(shè)備精度和穩(wěn)定性不足,多為簡(jiǎn)易搭制,集成性與多功能性較差。 本著開(kāi)發(fā)高精度和良好穩(wěn)定性的設(shè)計(jì)理念,同時(shí)為了滿(mǎn)足Bi基焦綠石介電材料的研究需要以及其它高校科研單位和企業(yè)的在電介質(zhì)陶瓷方面研究手段的不足,設(shè)計(jì)研發(fā)了電介質(zhì)材料電

2、性能測(cè)試系統(tǒng)-一低溫介電溫度特性測(cè)試系統(tǒng)。系統(tǒng)在功能實(shí)現(xiàn)、性能指標(biāo)和拓展性等方面均達(dá)到了較高水平,實(shí)現(xiàn)了系統(tǒng)集成化,達(dá)到了精度高、安全和經(jīng)濟(jì)等目標(biāo)。本文主要研究結(jié)果如下: (1)設(shè)計(jì)并加工完成了基于精密LCR數(shù)字電橋的低溫介電溫度特性測(cè)試系統(tǒng)。設(shè)計(jì)包括:升降溫、保溫系統(tǒng),線性升溫(1~10℃/min可選)系統(tǒng);四工位樣品夾持系統(tǒng)和與之對(duì)應(yīng)的多路模擬開(kāi)關(guān)系統(tǒng);編寫(xiě)了友好的人機(jī)交互界面;實(shí)現(xiàn)了樣品在-150℃~220℃溫度范圍內(nèi),不

3、同頻率下(LCR可測(cè)頻率,每次可選1~10個(gè)頻點(diǎn))的溫度特性測(cè)試,實(shí)現(xiàn)了數(shù)據(jù)的采集、存儲(chǔ)的自動(dòng)化以及測(cè)試過(guò)程的實(shí)時(shí)顯示。 (2)采用固相反應(yīng)燒結(jié)法制備了新型四元系Bi基焦綠石(Bi1.5Zn0.5-xSrx)(Sn1.5Nb0.5)O7(BZSSN)(x=0~0.5),利用開(kāi)發(fā)完成的低溫介電溫譜測(cè)試系統(tǒng)研究了系列樣品在低溫下的介電性能。相結(jié)構(gòu)分析表明BZSSN系列樣品均形成了立方焦綠石單相結(jié)構(gòu)。樣品的介電常數(shù)、介電損耗隨著Sr2

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