微波暗室性能測(cè)試支架及其控制系統(tǒng)設(shè)計(jì).pdf

1、在進(jìn)行微波暗室性能測(cè)試時(shí)，其測(cè)試支架起著至關(guān)重要的作用。本文從工程實(shí)際需要出發(fā)，對(duì)其測(cè)試支架及其控制系統(tǒng)進(jìn)行設(shè)計(jì)和分析。
　　 本測(cè)試支架有效工作范圍為水平面內(nèi)橫向（X方向）運(yùn)動(dòng)3m，縱向（Y方向）運(yùn)動(dòng)3m，垂直方向（Z方向）運(yùn)動(dòng)6m的立體空間，可同時(shí)采集三個(gè)通道的電磁信號(hào)。測(cè)試支架的主體材料為重量輕、強(qiáng)度大的MC尼龍及環(huán)氧玻璃布層壓板，以盡量降低由于反射對(duì)空間電磁信號(hào)分布測(cè)量所帶來的影響。測(cè)試支架各運(yùn)動(dòng)平臺(tái)沿每個(gè)方向軌道的運(yùn)動(dòng)

2、是通過平臺(tái)轉(zhuǎn)動(dòng)軸上的齒輪與軌道齒條嚙合來實(shí)現(xiàn)的，轉(zhuǎn)動(dòng)軸上齒輪的驅(qū)動(dòng)力由步進(jìn)電機(jī)經(jīng)齒輪減速后提供。測(cè)試支架各零部件的設(shè)計(jì)均參照相關(guān)技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行，為確保安全性，對(duì)一些關(guān)鍵部件進(jìn)行了有限元強(qiáng)度分析，為系統(tǒng)的可靠性提供了依據(jù)。在上述工作基礎(chǔ)上，完成了該系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與制造。同時(shí)，以NI數(shù)據(jù)采集卡為硬件基礎(chǔ)，結(jié)合LabVIEW圖形化開發(fā)平臺(tái)，開發(fā)了控制和測(cè)量系統(tǒng)軟件，能自動(dòng)完成信號(hào)采集、數(shù)據(jù)處理、曲線擬合、圖形化顯示等功能，并能實(shí)現(xiàn)試驗(yàn)報(bào)告的自動(dòng)生成