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1、掃描探針顯微鏡(Scanning Probe Microscope,SPM)是各種探針顯微鏡(原子力顯微鏡A FM,激光力顯微鏡LFM,磁力顯微鏡M F M等等)的統(tǒng)稱,是一種用于分析物質(zhì)表面微觀形態(tài)的科學(xué)儀器,它高度集成了機(jī)械加工技藝,量子隧穿原理,自動(dòng)控制原理,光電感應(yīng)原理,信號(hào)檢測(cè)技術(shù)及高分辨圖形處理技術(shù)等高新技術(shù)和原理。而它最初問世時(shí)的雛形是掃描隧道顯微鏡(Scanning Tunneling Microscope,STM)。<
2、br> “工欲善其事必先利其器”,鑒于目前納米材料科學(xué)的快速發(fā)展,對(duì)高精度的表面分析儀器工具的需要更加迫切,本文的研究目標(biāo)是在一定預(yù)算成本下,搭建一臺(tái)高穩(wěn)定性,高精度,可在大氣環(huán)境下使用的完整的掃描隧道顯微鏡系統(tǒng),因此本文的主要工作包括如下:
?。?)根據(jù)壓電材料的逆壓電效應(yīng),在充分分析目前STM領(lǐng)域內(nèi)幾款主流壓電馬達(dá)的基礎(chǔ)上,設(shè)計(jì)具有自主專利權(quán)的,創(chuàng)新的,結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,步進(jìn)穩(wěn)定的慣性壓電馬達(dá)結(jié)構(gòu),并購買材料制作成實(shí)物,通過實(shí)驗(yàn)測(cè)
3、試該慣性馬達(dá)的步進(jìn)幅度,負(fù)載能力,并對(duì)實(shí)驗(yàn)結(jié)果的誤差進(jìn)行理論分析,編寫了專利和論文。
?。?)設(shè)計(jì)并制作高放大倍率的前置放大器。本系統(tǒng)的前置放大器采用了德州儀器公司的OPA627高性能放大器作為主要元件,設(shè)計(jì)并搭建了一個(gè)二級(jí)放大電路作為我們的前置放大器。
?。?)針對(duì)STM系統(tǒng)對(duì)外界震動(dòng)敏感的特點(diǎn),我們利用金屬支架與四根勁度系數(shù)相同的粗彈簧搭建了一個(gè)二級(jí)減震系統(tǒng)。
?。?)根據(jù)設(shè)計(jì)的慣性壓電馬達(dá)的尺寸以及前置放大
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