SD卡與CF卡性能測試平臺的研究與設計.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、隨著現(xiàn)代科技的進步和生產(chǎn)的發(fā)展,SD(Secure Digital Memory Card)、CF(Compact Flash)卡的應用越來越廣泛,SD、CF卡的性能好壞直接關系到生活和生產(chǎn)上正在進行的工作的安全性和可靠性。所以SD卡的性能驗證和測試顯得尤為重要。而傳統(tǒng)的測試和驗證 SD卡的方法主要是通過用普通的低速讀卡器識別,再用相應的讀寫軟件對卡進行讀寫測試。雖然可以測試出一些基本的功能,但要進行高速性能測試,卻需要有專門的讀卡器進

2、行。對于高速測試和長時間測試一般讀卡器很難滿足,更不能滿足生產(chǎn)上的測試需求。針對以上對兩種卡的高速測試需要,本文研究了SD、CF卡高速性能測試平臺。
　　本文主要介紹了以PCI Express為接口的高速測試和驗證的硬件結(jié)構(gòu),讓SD、CF兩種卡集成到同一個PCI Express板卡上,讓一個板卡同時進行兩種卡的測試,對硬件電路的不同電壓模式、高頻特性和抗干擾特性進行了研究和分析;對 SD、CF兩種卡的讀寫控制進行了研究;還對PCI

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