力、電誘發(fā)多種質(zhì)流下金屬材料內(nèi)部晶內(nèi)微裂紋的演化.pdf_第1頁
已閱讀1頁,還剩70頁未讀 繼續(xù)免費閱讀

下載本文檔

版權(quán)說明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請進行舉報或認領(lǐng)

文檔簡介

1、本文采用有限單元法數(shù)值模擬在表面擴散和蒸發(fā)—凝結(jié)兩種機制下力、電誘發(fā)的金屬材料內(nèi)部晶內(nèi)微裂紋的演化規(guī)律。
  首先,建立了應(yīng)力場和曲率共同作用下金屬材料內(nèi)部晶內(nèi)微裂紋的演化模型。在表面擴散和蒸發(fā)—凝結(jié)機制的經(jīng)典理論及其弱解描述的基礎(chǔ)上,得到了應(yīng)力場和曲率作用下晶內(nèi)微裂紋演化的有限元控制方程,并編制可模擬應(yīng)力場和曲率共同作用下的二維晶內(nèi)微裂紋演化的有限元程序,驗證了該程序的可靠性和準確性。
  然后,對應(yīng)力場和表面曲率共同作用

2、下金屬材料內(nèi)部晶內(nèi)微裂紋的演化進行了數(shù)值模擬。在可模擬表面擴散和蒸發(fā)—凝結(jié)機制控制下表面能、應(yīng)變能誘發(fā)微結(jié)構(gòu)演化的程序上,添加了可分析兩種物質(zhì)輸運機制的比值對二維晶內(nèi)裂紋演化影響的程序模塊。詳細討論了微裂紋形態(tài)、應(yīng)力場大小和兩種擴散機制的競爭比值等因素對晶內(nèi)微裂紋演化的影響規(guī)律。
  最后,對電場和表面曲率共同作用下金屬材料內(nèi)部微裂紋的演化進行了數(shù)值模擬。詳細討論了微裂紋形態(tài)、電場大小和兩種物質(zhì)輸運機制的競爭比值等因素對微裂紋演化

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無特殊說明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁內(nèi)容里面會有圖紙預(yù)覽,若沒有圖紙預(yù)覽就沒有圖紙。
  • 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
  • 5. 眾賞文庫僅提供信息存儲空間,僅對用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護處理,對用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對任何下載內(nèi)容負責(zé)。
  • 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容,請與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準確性、安全性和完整性, 同時也不承擔(dān)用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

評論

0/150

提交評論