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文檔簡介
1、隨著集成電路制造工藝和設(shè)計水平的飛速發(fā)展,片上系統(tǒng)(System on Chip,SoC)成為當(dāng)今集成電路設(shè)計的一大主流。但是SoC測試的問題已成為制約其發(fā)展的“瓶頸”。隨著數(shù)字電路測試方法的不斷改進(jìn),數(shù)字系統(tǒng)的診斷理論已趨近完善和成熟,目前主要存在測試時間優(yōu)化問題。在另一方面數(shù)字電路雖然比模擬電路發(fā)展速度快,但模擬電路在電子系統(tǒng)中占有絕對重要位置,在混合電路中模擬部分也會比數(shù)字部分容易發(fā)生故障。
本文針對數(shù)?;旌闲盘?SoC
2、測試中數(shù)字部分的測試時間優(yōu)化問題及模擬電路故障診斷做了如下工作。
針對SoC測試調(diào)度問題的主要工作:1)針對SoC的IP核Wrapper掃描鏈平衡問題,采用基于差值二次分配的掃描鏈?zhǔn)沟煤藘?nèi)部掃描鏈平衡化,再對Wrapper輸入(輸出)單元分配,實現(xiàn)單核的測試時間優(yōu)化。2)針對多核測試調(diào)度問題,在Wrapper掃描鏈優(yōu)化的基礎(chǔ)上,對 PAW問題進(jìn)行建模;應(yīng)用 NSGA-II算法進(jìn)行求解。該算法能有效的搜索最優(yōu)解,且解具有分布均勻
3、,收斂性好的優(yōu)勢。以ITC’02標(biāo)準(zhǔn)測試集中的電路h953,d695,p22810,p93791電路為對象,進(jìn)行對比驗證,驗證了算法的有效性。
針對模擬電路診斷問題的主要工作:1)針對模擬電路軟故障診斷問題,提出了模糊模式識別理論與故障字典法相結(jié)合的故障診斷方法,首先使用模糊 C均值按照故障狀態(tài)類進(jìn)行分類,根據(jù)各聚類中心建立故障字典,計算待診斷參數(shù)與各電路狀態(tài)的隸屬度,最后采用最大隸屬原則完成故障診斷。實驗驗證診斷方法具有很好
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