電磁兼容中的測試與處理的若干關(guān)鍵技術(shù)研究.pdf

1、隨著電氣與電子技術(shù)的飛躍發(fā)展，電子設(shè)備中的電磁兼容(EMC)問題不斷涌現(xiàn)且尚未得到很好的解決，產(chǎn)品電磁兼容性能的提高及其測試方法研究正受到越來越多的關(guān)注和重視。電磁兼容的關(guān)鍵技術(shù)包括電磁干擾(EMI)和電磁抗干擾(EMS)兩個方面。在電磁干擾測試方面，目前電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)中所規(guī)定的輻射發(fā)射和測量裝置主要為開闊場(OATS)和電波暗室，其造價昂貴，一般企業(yè)和實(shí)驗(yàn)室難以實(shí)現(xiàn);且成本較低的GTEM小室在用于電磁干擾測量方面尚不成熟，還存在精度不高

2、、實(shí)現(xiàn)復(fù)雜等問題。在電磁抗干擾方面，靜電放電(ESD)問題最為頻發(fā)，危害巨大，且存在放電過程復(fù)雜、防護(hù)方法繁雜等問題，加上我國對于靜電放電問題的研究比較滯后，因此對靜電放電問題進(jìn)行系統(tǒng)全面的研究十分必要。
　　 針對上述問題，本文開展了“電磁兼容中的測試與處理的若干關(guān)鍵技術(shù)研究”主要包括兩個部分內(nèi)容:
　　 第一部分為電磁兼容中輻射EMI測量問題的研究，主要內(nèi)容有:(1)用于輻射電磁干擾測試的GTEM小室硬件結(jié)構(gòu)設(shè)計、與

3、開闊場的關(guān)聯(lián)算法及輻射EMI診斷機(jī)理介紹。(2)提出了基于不同EMI噪聲模型的GTEM小室測量方法，采用方差和多項式模型對GTEM小室測試結(jié)果進(jìn)行補(bǔ)償與校準(zhǔn)，與3m電波暗室的標(biāo)準(zhǔn)測試結(jié)果對比，通過計算誤差和精度以及高階矩分析，判斷各算法對不同EMI噪聲模型的適用性。(3)分別采用汽車電子車載導(dǎo)航儀以及醫(yī)療器械高清助視器的輻射EMI噪聲實(shí)驗(yàn)對上述理論分析加以驗(yàn)證。
　　 第二部分為電磁抗干擾(EMS)中靜電放電(ESD)問題的研究

4、，主要內(nèi)容有:(1)闡述了靜電放電的形成機(jī)理、放電特點(diǎn)、放電模型以及靜電放電的耦合方法等，創(chuàng)新的從傳導(dǎo)性ESD和輻射性ESD兩個方面對ESD的干擾機(jī)理和抑制策略進(jìn)行研究，提高了ESD問題的整改效率。(2)分別采用具有傳導(dǎo)性ESD問題的某皮帶秤和具有輻射性ESD問題的某型電力集中器進(jìn)行實(shí)驗(yàn)，驗(yàn)證了上述理論的有效性。
　　 理論分析與實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明，本文對GTEM小室的研究能夠使其用于共模和差模輻射電磁干擾的測量和診斷，判斷各算法的適