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文檔簡介
1、本文以 Mg-1Gd(0.73wt.%Gd),Mg-4Gd(3.62wt.%Gd)二元合金和純鎂為研究對象,采用金相顯微技術(shù)(OM)、電子背散射技術(shù)(EBSD)、掃描電子顯微技術(shù)(SEM)和室溫拉伸試驗(yàn)研究了晶粒尺寸,位向角,織構(gòu)類型和強(qiáng)度等隨著往復(fù)擠壓道次和溫度的演變規(guī)律;探討了晶粒尺寸,織構(gòu)類型以及稀土元素(Gd)對往復(fù)擠壓鎂合金的強(qiáng)塑性的影響規(guī)律,獲得如下結(jié)果:
細(xì)晶強(qiáng)化是鎂及鎂合金往復(fù)擠壓后性能提高的主要原因之一。純鎂
2、在350℃往復(fù)擠壓2道次后,組織均勻,晶粒尺寸由約2×5mm的柱狀晶下降為50μm左右的等軸晶,屈服強(qiáng)度由初始的12MPa提高到60MPa,隨著往復(fù)擠壓溫度的下降,晶粒尺寸顯著降低,屈服強(qiáng)度明顯提高,不同溫度(250℃,350℃,450℃)下往復(fù)擠壓2道次的純鎂其屈服強(qiáng)度和晶粒尺寸之間滿足 Hall-Petch關(guān)系,可表述為σs=5.4+338.6d?1/2。
Mg-Gd二元合金350℃往復(fù)擠壓2道次后,組織由粗大的拉長晶粒和
3、細(xì)小的再結(jié)晶晶粒共同組成,Mg-1Gd和Mg-4Gd合金的平均晶粒度分別為12μm和10μm左右。隨著往復(fù)擠壓道次的增加,組織均勻性增加,晶粒進(jìn)一步細(xì)化,屈服強(qiáng)度和延伸率均顯著上升。當(dāng)擠壓道次增加到8時,Mg-Gd合金中組織以細(xì)小的再結(jié)晶晶粒為主,Mg-1Gd和Mg-4Gd合金的平均晶粒尺寸分布降為2μm和1.5μm,屈服強(qiáng)度分別由初始狀態(tài)的20MPa和30MPa提高到181MPa和240MPa。在350℃下往復(fù)擠壓2,4,8道次的Mg
4、-1Gd和Mg-4Gd合金的屈服強(qiáng)度和晶粒尺寸之間分別滿足σs=135.3+61.3d?12和σs=118.2+144.4d?1/2。
織構(gòu)的類型和強(qiáng)度對往復(fù)擠壓鎂合金強(qiáng)韌化的有著重要影響。經(jīng)350℃往復(fù)擠壓后,隨著擠壓道次的增加,純鎂的晶粒尺寸無明顯變化,而屈服強(qiáng)度隨道次增加而下降,延伸率隨之上升,這主要是由織構(gòu)的軟化引起的。隨往復(fù)擠壓道次的增加,純鎂的織構(gòu)強(qiáng)度增加,其{0001}基面與擠壓方向的夾角由25°逐漸轉(zhuǎn)到40°左
5、右,基面滑移系的Schmid因子和織構(gòu)強(qiáng)度呈正相關(guān),使得基面滑移隨道次的增加而變得容易。350℃往復(fù)擠壓后,Mg-1Gd合金呈現(xiàn)基面與擠壓方向成40°~60°的夾角的織構(gòu)。其基面滑移系的Schmid因子和織構(gòu)強(qiáng)度呈負(fù)相關(guān),織構(gòu)的強(qiáng)度增強(qiáng),基面滑移變得困難,導(dǎo)致材料的屈服強(qiáng)度上升而延伸率下降。Mg-1Gd合金在往復(fù)擠壓4道次后,其組織較2道次時顯著細(xì)化,而延伸率卻較后者出現(xiàn)下降,主要是由于變形4道次后,織構(gòu)強(qiáng)度增強(qiáng),基面滑移系的Schmi
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