微型接電開(kāi)關(guān)的性能測(cè)試與結(jié)構(gòu)改進(jìn).pdf

1、MEMS技術(shù)的不斷發(fā)展，對(duì)引信的微型化和智能化發(fā)展有著重要意義。微型接電開(kāi)關(guān)是基于MEMS技術(shù)原理的引信用慣性開(kāi)關(guān)，目前針對(duì)它的原理探索和研究設(shè)計(jì)已經(jīng)取得了一定進(jìn)展。以研制完成的接電開(kāi)關(guān)為基礎(chǔ)，將建立一套完整的性能測(cè)試方案，并根據(jù)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行結(jié)構(gòu)改進(jìn)。
　　通過(guò)對(duì)接電開(kāi)關(guān)的工作環(huán)境進(jìn)行特征分析，提出了接電開(kāi)關(guān)在性能測(cè)試中的技術(shù)要求，包括動(dòng)態(tài)響應(yīng)性能、抗高過(guò)載性能和開(kāi)關(guān)導(dǎo)通性能。在動(dòng)態(tài)響應(yīng)性能中確定了正常發(fā)射環(huán)境載荷脈沖和勤務(wù)跌落環(huán)

2、境載荷脈沖閾值。
　　對(duì)微型接電開(kāi)關(guān)設(shè)計(jì)了性能測(cè)試方案并進(jìn)行測(cè)試。分別模擬了閾值為15000g-0.3ms的勤務(wù)環(huán)境沖擊載荷和3000g-3ms的發(fā)射環(huán)境沖擊載荷，測(cè)試結(jié)果表明接電開(kāi)關(guān)在勤務(wù)環(huán)境下保持?jǐn)嚅_(kāi)，但在發(fā)射環(huán)境下閉合狀態(tài)并不穩(wěn)定。接電開(kāi)關(guān)無(wú)法承受27500左右的高過(guò)載沖擊。在開(kāi)關(guān)接通之后可視為電阻值約為2.5Ω的負(fù)載電阻。
　　針對(duì)性能測(cè)試分析中開(kāi)關(guān)的動(dòng)態(tài)響應(yīng)不穩(wěn)定性，進(jìn)行接電開(kāi)關(guān)的結(jié)構(gòu)改進(jìn)設(shè)計(jì)。研究了曲折槽機(jī)構(gòu)參數(shù)