漏電保護(hù)電路及測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì).pdf

1、隨著我國(guó)社會(huì)經(jīng)濟(jì)建設(shè)的高速發(fā)展，電這種重要的能源廣泛應(yīng)用于我們的生活，電網(wǎng)結(jié)構(gòu)越來(lái)越龐大與復(fù)雜。人們的日常生活與工作已經(jīng)離不開各種各樣的電氣設(shè)施與電子裝備，促使人們對(duì)用電的安全性和供電的可靠性方面提出了更高的要求。作為保護(hù)人身和設(shè)備安全的漏電保護(hù)器，得到了空前廣泛的使用。漏電保護(hù)芯片作為漏電保護(hù)器的核心部分，對(duì)漏電保護(hù)器的性能影響非常大，所以研究和設(shè)計(jì)漏電保護(hù)控制電路變得尤為重要。
　　本論文的研究思路和工作內(nèi)容如下：
　　

2、首先通過(guò)漏電的危害指出漏電保護(hù)器的重要性，然后對(duì)漏電保護(hù)器的基本原理、分級(jí)保護(hù)、分類、適用范圍、電氣指標(biāo)、標(biāo)準(zhǔn)等幾個(gè)方面的研究讓大家對(duì)漏電保護(hù)的基本知識(shí)有了初步的認(rèn)識(shí)。
　　其次根據(jù)國(guó)內(nèi)的市場(chǎng)需求設(shè)計(jì)一款低成本的漏電保護(hù)芯片。本芯片主要用于各種建筑、住宅及電器的供電系統(tǒng)中，是一種微功耗電路，單管工作電流僅600μA，主要單元均為正向設(shè)計(jì)，采用SiGe BiCMOS工藝、數(shù)?；旌系脑O(shè)計(jì)方法，集成度約為500多個(gè)元器件，用Cadenc

3、e IC5141軟件進(jìn)行仿真，其版圖設(shè)計(jì)通過(guò)了SiGe BiCMOS工藝的DRC及LVS驗(yàn)證。本芯片各個(gè)功能模塊內(nèi)部所需的帶隙基準(zhǔn)、運(yùn)放、邏輯運(yùn)算等電路的設(shè)計(jì)，進(jìn)行了電路的仿真和驗(yàn)證，仿真結(jié)果表明實(shí)現(xiàn)了各個(gè)模塊的功能和性能指標(biāo)?？傮w電路進(jìn)行了系統(tǒng)仿真，結(jié)果表明符合設(shè)計(jì)要求。并且此漏電保護(hù)芯片經(jīng)過(guò)了“穩(wěn)定性烘焙”、“溫度循環(huán)”、“高、低溫電參數(shù)測(cè)試”等可靠性試驗(yàn)。
　　再次，作為漏電保護(hù)芯片，穩(wěn)定性和一致性非常重要，一旦該芯片出現(xiàn)誤

4、操作，有可能會(huì)造成嚴(yán)重后果，因此我們針對(duì)芯片的重要參數(shù)制定了完善可靠的測(cè)試方案。
　　最后，根據(jù)漏電保護(hù)芯片的特性，我們不但建立了以功能測(cè)試、性能測(cè)試為目的的漏電保護(hù)芯片測(cè)試系統(tǒng)，還針對(duì)測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行了抗干擾措施的研究，該測(cè)試系統(tǒng)具備對(duì)測(cè)試結(jié)果綜合分析的能力。硬件方面我是采用的PROTEL99SE軟件來(lái)設(shè)計(jì)，囊括了重要參數(shù)指標(biāo)的測(cè)試需求，軟件方面則是通過(guò)滿足系統(tǒng)自動(dòng)化測(cè)試功能的需要，使用Code VisionAVR C編程軟件對(duì)At