2023年全國碩士研究生考試考研英語一試題真題(含答案詳解+作文范文)_第1頁
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文檔簡介

1、在對微機(jī)電系統(tǒng)(Micro Electro Mechanical System,MEMS)結(jié)構(gòu)的特性參數(shù)進(jìn)行測量和MEMS可靠性進(jìn)行測試的過程中,常要求對結(jié)構(gòu)表面的三維形貌、粗糙度、微小的位移和變形等物理量做精密測量。目前,顯微干涉法憑借其高精度、高垂直分辨率、測量簡單快捷、無損等優(yōu)點,已經(jīng)成為這類測量中最常用的手段之一,包括相移干涉法、白光干涉法、外差法等等。其中,相移干涉法又擁有著極為重要的地位。用壓電陶瓷(Piezoelectri

2、c Transducer,PZT)精確地確定待測樣品的移動量通常是現(xiàn)有相移干涉技術(shù)能夠?qū)崿F(xiàn)三維形貌精確測量的基礎(chǔ),而高精度的PZT系統(tǒng)價格昂貴,無法實現(xiàn)廣泛應(yīng)用。如何利用MEMS加工過程中常見的儀器就可以方便實現(xiàn)具有足夠精度的三維形貌測量是一項非常有意義的工作。
  由于通過氧化、刻蝕、淀積及濺射等技術(shù)加工的MEMS器件中通常存在許多平面(例如襯底),這些平面與理想平面非常接近,那么根據(jù)光的干涉理論可知,理想平面的干涉條紋是平行的

3、直線簇,光強分布呈余弦規(guī)律,而且周期相同。正是基于這個特點,本文給出了一種采用快速傅立葉變換(fast Fourier transformation,F(xiàn)FT)來分析確定兩幅干涉圖中平面部分的相移量,然后利用這些獲取的相移量來重構(gòu)MEMS微結(jié)構(gòu)表面三維形貌的方法??梢?,該方法無需采用PZT來確定多幅干涉圖之間的相移量,并且只需通過旋轉(zhuǎn)顯微鏡的對焦微調(diào)旋鈕就可以上下移動載物臺拍攝多幅干涉圖,進(jìn)行MEMS微結(jié)構(gòu)表面三維形貌重構(gòu)。
  本

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