基于分烽階延遲濾波器的TIADC校正算法的研究及實(shí)現(xiàn).pdf

1、隨著社會(huì)的發(fā)展，市場(chǎng)對(duì)數(shù)據(jù)業(yè)務(wù)需求越來(lái)越大，這對(duì)現(xiàn)代通信系統(tǒng)提出了更高的要求，模數(shù)轉(zhuǎn)換器（analog to digital converter，ADC）作為通信系統(tǒng)的關(guān)鍵模塊，成為制約通信系統(tǒng)性能的瓶頸，傳統(tǒng)ADC構(gòu)架往往都是在數(shù)模轉(zhuǎn)換器的速度指標(biāo)和精度指標(biāo)間進(jìn)行折中，而時(shí)分交替ADC(time interleaved ADC，TIADC)構(gòu)架的提出為突破傳統(tǒng)限制提供一種全新構(gòu)架，TIADC采用多通道ADC分時(shí)隙對(duì)同一信號(hào)采樣，最后將

2、經(jīng)過轉(zhuǎn)換的數(shù)字信號(hào)插值相加，達(dá)到提升采樣數(shù)據(jù)速率的目的，理論上TIADC能達(dá)到無(wú)限大的采樣速率，但是在實(shí)際實(shí)現(xiàn)中，由于通道間的匹配并不能達(dá)到完全匹配，因此會(huì)引入多種誤差，導(dǎo)致TIADC性能下降，其誤差包括以下幾類:失調(diào)誤差，增益誤差，采樣時(shí)間誤差。
　　 由于失調(diào)誤差和增益誤差的校正比較簡(jiǎn)單，因此研究界的研究熱點(diǎn)一直集中在采樣時(shí)間誤差的校正上，傳統(tǒng)TIADC的數(shù)字校正算法是基于自相關(guān)檢測(cè)算法來(lái)檢測(cè)通道間誤差和分?jǐn)?shù)階延遲濾波器來(lái)校

3、正通道間的失真，但是傳統(tǒng)校正方式往往只適用于輸入信號(hào)是窄帶信號(hào)的情況，在輸入信號(hào)為寬帶信號(hào)的時(shí)候，由于信號(hào)本身和其失真信息的混疊會(huì)導(dǎo)致自相關(guān)檢測(cè)算法出錯(cuò)從而導(dǎo)致校正算法出錯(cuò)，為了克服該傳統(tǒng)校正算法的局限性，本文基于采用額外的信號(hào)檢測(cè)通道間失配來(lái)對(duì)通道誤差進(jìn)行校正的思想，提出了兩種改進(jìn)的校正算法，一種是在信號(hào)中預(yù)留帶寬給一個(gè)檢測(cè)信號(hào)的半盲校正算法，另一種是采用額外通道檢測(cè)的輔助通道校正算法。
　　 由于算法中所采用的分?jǐn)?shù)階延遲濾波