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文檔簡介
1、干涉測量方法基于光波干涉原理,是光學(xué)元件表面檢測的重要方法,具有精度高和非接觸測量的優(yōu)點(diǎn)。如今,光學(xué)器件的需求日益增加,傳統(tǒng)的人工讀圖檢測方式在效率和精度上難以滿足當(dāng)前光學(xué)元件檢測和加工的需要。隨著圖像傳感技術(shù)、計算機(jī)技術(shù)和圖像處理技術(shù)的發(fā)展,干涉檢測技術(shù)正在向高效率和高自動化的方向發(fā)展。
為了實(shí)現(xiàn)對條紋圖的自動和實(shí)時判讀,本文研究了干涉圖像的計算機(jī)分析方法。分析過程借助于數(shù)字圖像處理技術(shù),完成對干涉條紋的處理和對條紋有效信息
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