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文檔簡介
1、微測輻射熱計由于其低功耗、成本小、便于集成等優(yōu)點廣泛應(yīng)用于熱成像系統(tǒng)中。目前,大多數(shù)的微測輻射熱計只應(yīng)用于8~14μm這一波段的紅外熱輻射探測。但是單一波段獲取的目標(biāo)信息由于使用區(qū)域的不同、氣候溫度的改變以及目標(biāo)的偽裝而減弱甚至使得探測器探測不到目標(biāo)或者探測準(zhǔn)確度下降,同時利用景物3~5μm和8~14μm紅外熱輻射的雙波段探測技術(shù)可以有效的彌補其不足,因此雙波段微測輻射熱計已成為非制冷紅外成像技術(shù)的重要研究內(nèi)容。
本文系統(tǒng)研究
2、了微測輻射熱計的光學(xué)性能,從單波段微測輻射熱計入手,通過合理選擇鈍化層的材料以及膜厚,可在8~14μm波段得到較高的紅外吸收率;與此同時針對微測輻射熱計的實際工作情況,利用MATLAB軟件仿真計算了傾斜入射情況下多層光學(xué)薄膜系統(tǒng)的紅外吸收率,結(jié)果顯示此種情況下的紅外吸收率有明顯的降低;其后分析了雙波段微測輻射熱計的光學(xué)特性,利用在Si襯底和熱敏感薄膜層之間移動的可動微鏡,通過調(diào)節(jié)第一光學(xué)諧振腔的高度使得微測輻射熱計同時在兩個波段獲得目標(biāo)
3、信息,達(dá)到雙波段探測的目的。3~5μm和8~14μm波段的最大紅外吸收率分別為97%和98.1%;在雙波段微測輻射熱計中,橋面的夾層結(jié)構(gòu)Si3N4/SiO2/VOx/Si3N4/SiO2的膜厚對光學(xué)性能有著至關(guān)重要的影響,利用遺傳算法對膜厚在3~14μm進(jìn)行了全局優(yōu)化,結(jié)果顯示夾層結(jié)構(gòu)的平均紅外吸收率達(dá)到60.9%。
利用專業(yè)MEMS仿真分析軟件IntelliSuite,設(shè)計了雙波段微測輻射熱計結(jié)構(gòu)中的可動微鏡,它利用靜電力驅(qū)
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