RFID測試系統(tǒng)載波抵消技術(shù)研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、基于反向散射原理的超高頻射頻識別(UHF RFID)技術(shù),其標(biāo)簽測試通常在全電波暗室中進(jìn)行。測試過程中由于收發(fā)天線空間距離較小的關(guān)系,部分射頻信號能量從發(fā)射端直接耦合到接收端。這部分功率遠(yuǎn)大于RFID標(biāo)簽反射信號功率,對調(diào)制在標(biāo)簽反射波上的信號產(chǎn)生了干擾,直接降低了有用信號質(zhì)量,給接收端的解調(diào)、檢波等帶來了困難和性能降級,影響了測試設(shè)備的靈敏度范圍,甚至使測試無法進(jìn)行。因此對收發(fā)天線載波泄漏進(jìn)行研究,分析其形成機理和特征,并采取一定的方

2、法盡可能的壓制干擾對提高測試系統(tǒng)的穩(wěn)定性和可靠性有重要意義。
  本文首先介紹了超高頻射頻識別的技術(shù)基礎(chǔ)和特點,以及無源標(biāo)簽的測試方法和測試系統(tǒng)現(xiàn)狀,著重分析了基于虛擬儀器技術(shù)的RFID測試解決方案。針對測試系統(tǒng)中存在載波泄漏的情況,通過分析其形成機理,并通過理論計算和實際測量,得到了耦合載波的特性及其影響標(biāo)簽信號質(zhì)量的原因。本文提出一種射頻前端的載波抵消設(shè)計,通過采用發(fā)射波作為本地載波,調(diào)整其幅度、相位,以達(dá)到與泄漏載波形成等幅

3、、反相,經(jīng)二者疊加輸出到接收端而達(dá)到抵消泄漏載波能量的目的。通過軟硬件電路設(shè)計實現(xiàn)了一個程序控制的射頻抵消電路,以微控制器驅(qū)動數(shù)控衰減器、移相器調(diào)整本地載波幅度、相位,以鑒幅鑒相器分辨本地載波與泄漏載波的幅度差、相位差,并將結(jié)果返回微控制器,以這種閉環(huán)結(jié)構(gòu)實現(xiàn)自適應(yīng)的載波抵消電路。通過在模塊電路調(diào)試中發(fā)現(xiàn)的問題及解決,分析了影響電路性能的原因,根據(jù)實測數(shù)據(jù)加入補償參數(shù),獲得了較好的載波抵消效果。通過對比分析載波抵消應(yīng)用前后的測試結(jié)果,實

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