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1、物理不可克隆函數(shù)(Physical Unclonable Functions,PUF)電路作為一種新型的密鑰生成電路,利用集成電路(Integrated Circuit,IC)制造過程中的工藝參數(shù)偏差,在相同的電路結(jié)構(gòu)下產(chǎn)生多個(gè)不同的密鑰數(shù)據(jù),實(shí)現(xiàn)具有芯片身份標(biāo)識(shí)的硬件函數(shù)功能。PUF電路可用于數(shù)據(jù)加密、數(shù)字簽名、消息認(rèn)證以及硬件知識(shí)產(chǎn)權(quán)保護(hù)等多種信息系統(tǒng),提高系統(tǒng)安全性。鑒此,本文以PUF電路為研究對(duì)象,在綜合分析PUF電路研究意義和
2、當(dāng)前國(guó)內(nèi)外研究現(xiàn)狀情況下,提出多種新型的PUF電路設(shè)計(jì)方案,包括基于電流鏡的PUF電路設(shè)計(jì)、基于最優(yōu)控制電壓的PUF電路設(shè)計(jì)、基于SRAM的PUF電路設(shè)計(jì)和基于DAC的PUF電路設(shè)計(jì)。最后,采用Cadence等軟件,分析PUF電路在不同條件下的工作性能。論文的研究?jī)?nèi)容主要包含以下幾個(gè)部分:
1、基于電流鏡的PUF電路設(shè)計(jì):通過對(duì)電流鏡工作特性的研究,結(jié)合PUF電路的工作原理,將多路電流鏡作為PUF電路的偏差信號(hào)產(chǎn)生電路,用于產(chǎn)
3、生隨機(jī)的電流信號(hào),然后通過分析電流型敏感放大器的工作特性,將其作為PUF電路的輸出電路,用于比較偏差電流信號(hào)的大小,并產(chǎn)生輸出響應(yīng)信號(hào),進(jìn)而實(shí)現(xiàn)PUF電路的功能。
2、基于最優(yōu)控制電壓的PUF電路設(shè)計(jì):首先分析影響 PUF電路可靠性的因素,確定提高PUF電路可靠性的方法,然后通過對(duì)MOSFET零溫度系數(shù)點(diǎn)(Zero Temperature Coefficient,ZTC)理論的研究,分析在工藝偏差情況下MOSFET的零溫度系數(shù)
4、點(diǎn)變化情況,并與提高PUF電路可靠性方法相結(jié)合,提出基于最優(yōu)控制電壓的PUF電路設(shè)計(jì)方案,最終實(shí)現(xiàn)輸出響應(yīng)信號(hào)可靠的目的。
3、基于SRAM的PUF電路設(shè)計(jì):首先對(duì)傳統(tǒng)SRAM-PUF電路的結(jié)構(gòu)和工作原理進(jìn)行研究,分析電路在讀操作過程中的穩(wěn)定性問題,然后結(jié)合SRAM單元電路和寄存器堆電路設(shè)計(jì)過程中提高讀穩(wěn)定性方法,提出一種新型的SRAM-PUF單元電路設(shè)計(jì)方案,通過對(duì)傳統(tǒng)的SRAM-PUF單元電路插入隔離管的方式,實(shí)現(xiàn)讀靜態(tài)噪
5、聲容限有效提升的目的,最終提高電路的穩(wěn)定性。
4、基于DAC的PUF電路設(shè)計(jì):通過對(duì)數(shù)模轉(zhuǎn)換器(Digital-to-Analog Converter,DAC)電路的研究,分析其輸出模擬信號(hào)的特點(diǎn),結(jié)合PUF電路的設(shè)計(jì)方法,將兩組DAC作為PUF電路的偏差信號(hào)產(chǎn)生電路,然后結(jié)合提高PUF電路可靠性的方法,確定DAC的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)類型,并分析其輸出電壓信號(hào)的偏差模型,最后借助靈敏放大器產(chǎn)生PUF電路的輸出響應(yīng)。
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