BESⅢ漂移室運(yùn)行性能分析及噪聲研究.pdf

1、北京譜儀Ⅲ(BESⅢ)運(yùn)行在升級后的北京正負(fù)電子對撞機(jī)Ⅱ(BEPCⅡ)上，它是一臺大型通用磁譜儀，其物理目標(biāo)是τ-粲能區(qū)的精確測量和新物理的尋找。漂移室(MDC)是其最內(nèi)層的子探測器，也是BESⅢ的中心徑跡探測器，其主要任務(wù)是測量帶電粒子的徑跡、動(dòng)量及能量損失。
　　漂移室的運(yùn)行性能包含空間分辨，動(dòng)量分辨，擊中效率等幾個(gè)方面來。本文使用2013年12月至2014年5月期間BESⅢ運(yùn)行取數(shù)獲得的Bhabha事例，對上述幾個(gè)方面的性能

2、進(jìn)行了深入研究，包括空間分辨、擊中效率隨絲層的變化，徑跡入射角度對動(dòng)量的影響，以及工作高壓和工作氣體等因素對MDC運(yùn)行性能的影響等，此外為了盡早的發(fā)現(xiàn)探測器潛在的運(yùn)行問題，在這輪取數(shù)期間對MDC性能逐個(gè)run地進(jìn)行了跟蹤研究。
　　在MDC整個(gè)運(yùn)行取數(shù)期間，噪聲是不可避免的，噪聲不僅是影響漂移室實(shí)際運(yùn)行性能的一項(xiàng)重要因素，也是影響數(shù)據(jù)和模擬一致性的重要因素之一，本文介紹了MDC噪聲的來源，利用實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)研究了MDC噪聲的分布，包括噪

3、聲擊中率隨絲層的變化、以及隨取數(shù)時(shí)間的變化，對時(shí)間道與時(shí)鐘相關(guān)的噪聲進(jìn)行了研究，并匯總整理了漂移室運(yùn)行6年以來噪聲的總體變化情況，由于內(nèi)室最靠近束流管，受到的束流本底影響最大，為此從實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)中挑選出不同噪聲水平的事例樣本，研究了噪聲對內(nèi)室空間分辨和擊中效率的影響。研究結(jié)果表明，噪聲擊中率越高，空間分辨越差，擊中效率越低。
　　經(jīng)過6年的運(yùn)行取數(shù)，MDC內(nèi)室已經(jīng)出現(xiàn)嚴(yán)重的老化現(xiàn)象，實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的分析結(jié)果表明，內(nèi)室增益逐年下降，為了分析信