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1、NiO是一種新型的寬禁帶氧化物半導(dǎo)體,具有直接帶隙能帶結(jié)構(gòu),室溫下的禁帶寬度在3.6-4.0 eV之間。由于NiO特有的電子結(jié)構(gòu)以及 p型導(dǎo)電等特點(diǎn),它具有許多獨(dú)特的性質(zhì),在透明導(dǎo)電薄膜、氣敏、紫外探測(cè)等領(lǐng)域顯示出其廣闊的應(yīng)用前景。關(guān)于 n型氧化物半導(dǎo)體材料的研究不斷成熟,而 p型氧化物半導(dǎo)體材料還有待進(jìn)一步探索。因此研究可操作性強(qiáng)、符合應(yīng)用要求的 NiO薄膜的制備方法因此顯得尤其重要。
本論文提出一種紫外線熱氧化法制備N(xiāo)iO
2、薄膜,通過(guò)對(duì)比不同氧化時(shí)間、紫外線光源、退火條件、摻雜對(duì)NiO薄膜的特性的影響,獲得制備良好NiO薄膜的實(shí)驗(yàn)條件,應(yīng)用此方法成功制備n-NiO/p-Si異質(zhì)結(jié)器件。主要研究?jī)?nèi)容包括:
?。?)NiO薄膜制備及實(shí)驗(yàn)條件的優(yōu)化
紫外線熱氧化制備N(xiāo)iO薄膜的流程主要分為兩個(gè)部分:Ni膜的制備和Ni膜的氧化。在紫外線熱氧化的過(guò)程中,不同實(shí)驗(yàn)條件制備的 NiO薄膜晶體質(zhì)量、光學(xué)特性各有不同:氧化時(shí)間60 min時(shí),樣本拉曼峰值最
3、高,薄膜電阻率最低;實(shí)驗(yàn)室有功率密度均為600 mW/cm2的金屬鹵化物紫外線燈和含臭氧水銀外線燈作為光源,起到催化劑的作用加快氧化反應(yīng),拉曼散射光譜表明含臭氧水銀燈的氧化效率較高;氧化完成后,在氮?dú)夥諊型嘶?0 min能有效減少晶格損傷,改善薄膜電阻率;摻雜Li會(huì)降低薄膜的光學(xué)透明性,X射線衍射圖表明摻雜改變了薄膜的晶向特性。
?。?)p-NiO/n-Si器件的制備與測(cè)試
為了測(cè)量異質(zhì)結(jié)的電流電壓,在NiO和Si襯
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