基于Phong模型的去光照算法及其在鋼坯缺陷檢測中的應用.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、在鋼鐵連鑄坯內(nèi)部缺陷檢測評級中,由于環(huán)境限制及自身反光,采集的鋼坯圖像中普遍存在光照不均勻現(xiàn)象,主要表現(xiàn)為圖像灰度的局部過亮或過暗。而缺陷分割提取與圖像灰度有關,灰度的不均勻影響缺陷分割結(jié)果,造成評級的誤判。故有必要對鋼坯的光照問題進行處理,提高圖像質(zhì)量,方便缺陷提取,為后面的評級做準備。本文主要研究鋼坯圖像的去光照問題及中心偏析這類缺陷的自動評級。
  首先,本文從光照不均勻圖像的分類出發(fā),重點對包含高光特征的鋼坯圖像缺陷分割不

2、完整問題進行缺陷特征和光照分布的描述;采用經(jīng)典的去光照算法對光照不均圖像進行處理,從主觀和客觀評價兩方面對結(jié)果分析,歸納總結(jié)適合每一類型的去光照方法。
  其次,針對具有高光特征的鋼坯圖像去光照問題,提出基于Phong模型的背景模擬法。該方法通過建立光照物理反射幾何模型,給出具體的背景光照模擬方案,利用背景減除法得到去光照的鋼坯圖像,應用閾值分割的方法,缺陷目標很容易就被分割出來,目標分割完整,減小了光照對圖像的影響,并從主觀和客

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