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文檔簡介
1、納米壓痕力學(xué)測量系統(tǒng)由于其較高的分辨率的加載力和位移傳感器,現(xiàn)已在微納米薄膜材料和微電子器件的機(jī)械性能表征測量領(lǐng)域廣泛應(yīng)用。納米壓入測量是通過連續(xù)記錄壓入和卸載過程中的載荷和壓入深度,結(jié)合針尖壓入投影面積,從而獲得材料的壓入硬度和折合模量等參數(shù)信息。然而,商用納米壓痕儀常常因?yàn)闆]有校準(zhǔn)或者沒有經(jīng)過科學(xué)系統(tǒng)的校準(zhǔn)而使壓頭面積函數(shù)、載荷和位移傳感器等產(chǎn)生一定的差異,并且測量深度越小,差異就會越顯著。
本文在已有工作的基礎(chǔ)上,對海思
2、創(chuàng)Ti-900型號納米壓痕儀的壓頭面積函數(shù)和機(jī)架柔度等進(jìn)行校準(zhǔn),并研制了熔融石英和聚碳酸酯兩種標(biāo)樣。主要研究內(nèi)容及結(jié)果為以下3點(diǎn):
1.納米壓痕儀壓頭面積函數(shù)的校準(zhǔn)。
玻氏壓頭是測試使用最多的壓頭,本文采用2種方法對玻氏壓頭面積函數(shù)進(jìn)行校準(zhǔn):1.通過NPL熔融石英標(biāo)樣進(jìn)行間接校準(zhǔn),通過擬合測試曲線得到壓頭面積函數(shù)。2.通過原子力顯微鏡直接測量壓頭幾何形貌進(jìn)行校準(zhǔn),該方法直接測出壓頭幾何形貌,并將掃描圖水平方向的截面積
3、與豎直方向的高度一一對應(yīng),得到壓頭面積關(guān)于高度的函數(shù)。測試結(jié)果經(jīng)標(biāo)物驗(yàn)證表明,在極淺壓入深度下,掃描電壓在5V-2 V-0 V,掃描頻率0.5 Hz的直接校準(zhǔn)法更能得到可靠和真實(shí)的測量結(jié)果。
2.壓痕儀壓頭面積函數(shù)的誤差分析和機(jī)架柔度的校準(zhǔn)。
原子力顯微鏡對納米壓痕儀針尖幾何形貌掃描的過程中,會受到儀器熱漂移、儀器分辨率、儀器針尖的曲率半徑等因素的影響,從而導(dǎo)致測試結(jié)果存在相應(yīng)的誤差。熱漂移和掃描分辨率可以通過相應(yīng)的
4、方法進(jìn)行降低和評估。而AFM針尖曲率半徑直接影響掃描的納米壓痕儀壓頭的幾何形貌,從而會使壓頭的面積函數(shù)產(chǎn)生偏差。本文將會對AFM掃描壓頭過程建立幾何模型,通過模型分析出AFM曲率半徑產(chǎn)生的影響,并予以去除,進(jìn)而得到更為準(zhǔn)確的壓頭針尖面積函數(shù)。
納米壓痕儀測試過程中,測試位移量包括壓頭壓入樣品的深度和儀器產(chǎn)生的彈性變形兩部分。為了得到準(zhǔn)確的壓入深度,應(yīng)該設(shè)法減去儀器的變形量。本文在NPL塢標(biāo)樣做壓痕測試,通過公式計(jì)算得出儀器的機(jī)
5、架柔度。進(jìn)而對納米壓痕儀測試過程中的位移量予以修正。
3.標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的研制和不確定度評定
將納米壓痕儀校準(zhǔn)和溯源后,對熔融石英和聚碳酸酯的均勻性與穩(wěn)定性進(jìn)行研究,并評定納米壓痕儀的載荷、壓頭面積函數(shù)、位移以及樣品均勻性和穩(wěn)定性引入的不確定度,然后對標(biāo)物定值。定值結(jié)果是熔融石英的折合模量為69.6 GPa不確定度為1.3%,壓入硬度為9.25 GPa,不確定度為1.4%;聚碳酸酯的折合模量為3.098 GPa,不確定度為
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