基于白光干涉原理的Y波導(dǎo)器件測試方法研究.pdf

1、當(dāng)今社會，隨著光纖陀螺的迅猛發(fā)展，其應(yīng)用范圍遍布各個領(lǐng)域，包括了載人航天、衛(wèi)星定向、機載系統(tǒng)等等，尤其在軍事領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用，更是直接影響著一個國家軍事實力的發(fā)展前景。正是因為如此，所以目前國內(nèi)外對于光纖陀螺精度的要求越來越高，而Y波導(dǎo)作為光纖陀螺內(nèi)的核心器件，其芯片消光比的高低直接影響著光纖陀螺性能的好壞。但是，目前在眾多對于波導(dǎo)消光比的測試方法中，測試精度都很有限。怎樣能夠研究出一種高精度、大動態(tài)范圍的測試方法和裝置成為了亟需解決的問

2、題。國內(nèi)外相關(guān)領(lǐng)域的研究者聚集于此，開展了針對Y波導(dǎo)消光比測試方法的相關(guān)研究，這必將會推動Y波導(dǎo)向更高精度不斷發(fā)展前進。
　　本文基于白光干涉原理，利用實驗室前期研發(fā)的OCDP（光學(xué)相干域偏振檢測）測試系統(tǒng)，展開了對于Y波導(dǎo)消光比測試方法的研究，主要研究體現(xiàn)在：
　　首先從部分相干光干涉原理入手，對功率譜密度、相干函數(shù)以及相干度等概念進行推導(dǎo)與介紹，并借助其原理以及白光干涉的相關(guān)知識，對Y波導(dǎo)的測試原理進行了幾種條件下的理論

3、模型構(gòu)建，通過Matlab對所構(gòu)建的模型進行理論仿真與對比分析；
　　其次對Y波導(dǎo)消光比測試光路的結(jié)構(gòu)方案進行了詳細的論述。分別從單、雙通道兩種不同的測試光路進行敘述，并比較了兩種光路的優(yōu)缺點。在此基礎(chǔ)上，對可變光程延遲裝置進行了結(jié)構(gòu)方案的優(yōu)化，最后對光路的性能指標(biāo)進行了具體的介紹；
　　再來分別對Y波導(dǎo)測試光路的參數(shù)選擇思想、測量方法以及計算方法進行了詳細的介紹，并借助于搭建的消光比測試光路對Y波導(dǎo)進行了批量測試，對其偏振

4、特性進行了分析，最后對Y波導(dǎo)消光比受電壓的影響進行了相關(guān)實驗的研究；
　　最后對Y波導(dǎo)測試光路的誤差進行了分析。分別從三個方面進行了實驗研究：同一波導(dǎo)多次焊接測量的不一致性影響、同一波導(dǎo)不同焊接角度對測量的影響分析、同一波導(dǎo)正反向測量的一致性分析。
　　研究實驗結(jié)果表明：利用實驗室前期研發(fā)的OCDP測試系統(tǒng)，采用白光干涉法對Y波導(dǎo)消光比進行測試有效的提升了測試系統(tǒng)的動態(tài)范圍，降低了系統(tǒng)的噪聲本底；測試光路動態(tài)范圍在90dB，