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1、隨著移動(dòng)通信技術(shù)的不斷發(fā)展,通信系統(tǒng)對(duì)于模數(shù)轉(zhuǎn)換器的要求不斷提高。具有一定精度的低功耗模數(shù)轉(zhuǎn)換器成為當(dāng)下的熱門(mén)研究方向之一。在這種背景下,逐次逼近型模數(shù)轉(zhuǎn)換器(SARADC)由于其低功耗,算法簡(jiǎn)便的優(yōu)勢(shì),近年來(lái)發(fā)展迅速。
本文調(diào)研了逐次逼近型模數(shù)轉(zhuǎn)換器的國(guó)內(nèi)外研究現(xiàn)狀,介紹了模數(shù)轉(zhuǎn)換器的基本參數(shù),闡述了各種常見(jiàn)類(lèi)型模數(shù)轉(zhuǎn)換器的實(shí)現(xiàn)原理。根據(jù)DRM/DAB系統(tǒng)的要求,確定了逐次逼近型模數(shù)轉(zhuǎn)換器的結(jié)構(gòu)和設(shè)計(jì)指標(biāo),完成了低功耗逐次逼
2、近型模數(shù)轉(zhuǎn)換器的設(shè)計(jì)。
本文首先詳細(xì)分析了逐次逼近型模數(shù)轉(zhuǎn)換器中電容式數(shù)模轉(zhuǎn)換器(DAC)的工作原理,確定了5-5分段的電容陣列結(jié)構(gòu)和高位到低位的電容權(quán)值,計(jì)算了參考電容面積和模數(shù)轉(zhuǎn)換器的DNL之間的關(guān)系,并推導(dǎo)出了參考電容的值為50fF。使用中心對(duì)稱(chēng)的版圖方式優(yōu)化了電容的匹配性能。
分析了模數(shù)轉(zhuǎn)換器中比較器的關(guān)鍵指標(biāo),包括失調(diào)、增益和響應(yīng)時(shí)間等。采用多級(jí)比較器和動(dòng)態(tài)鎖存器級(jí)聯(lián)的方式,實(shí)現(xiàn)了高速低功耗的比較器,減小了
3、動(dòng)態(tài)比較器的回饋噪聲對(duì)DAC的影響。并且使用了輸出失調(diào)消除技術(shù)減小了比較器整體的失調(diào)。
對(duì)采樣開(kāi)關(guān)的非理想因素進(jìn)行了詳細(xì)分析,通過(guò)使用自舉開(kāi)關(guān)、不交疊時(shí)鐘和全差分的參考信號(hào),減小了電荷注入、時(shí)鐘饋通、開(kāi)關(guān)的非零導(dǎo)通電阻等非理想因素的影響。
設(shè)計(jì)了整體電路的時(shí)序邏輯,通過(guò)Varilog代碼對(duì)數(shù)字模塊進(jìn)行了前仿真驗(yàn)證,并通過(guò)DC和Astro生成了數(shù)字模塊的版圖。本文基于SMIC0.18μm CMOS工藝完成了電路的設(shè)計(jì)和
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