超分辨熒光壽命顯微方法及系統(tǒng).pdf

1、集成熒光強度成像以及熒光壽命成像的高分辨率熒光顯微系統(tǒng)在實際中有著非常重要的應用，能在無損，無侵入的情況下，反映出被觀察樣品的微觀結構信息以及環(huán)境條件信息，為生物細胞學、材料學等學科研究提供直觀途徑。本文提出在共聚焦顯微術的基礎上，利用受激輻射原理抑制邊緣熒光，使得實際熒光光斑尺寸低于衍射極限，實現(xiàn)超分辨顯微，并集成時間相關單光子計數技術(TCSPC)，同時獲得熒光壽命信息。
　　 本文首先介紹了目前主流的超分辨方法以及各自特點

2、，并就每種方法簡述集成熒光壽命測量技術的可行性。
　　 然后詳細介紹了受激發(fā)射消耗超分辨顯微術的原理，并對用于壓縮熒光光斑尺寸的空心消耗光斑進行相關仿真。同時介紹了幾種主要的熒光壽命測量手段，大致分析了超分辨熒光壽命成像系統(tǒng)的機理。
　　 為了驗證熒光壽命顯微成像，首先搭建了共聚焦熒光壽命顯微系統(tǒng)，成功在衍射極限內實現(xiàn)熒光壽命成像。隨后以共聚焦熒光壽命成像系統(tǒng)為基礎，引入相位調制消耗光束，最終實現(xiàn)超分辨熒光壽命顯微成像。