數(shù)字散斑照相術(shù)測(cè)量物面形變.pdf

1、光學(xué)測(cè)量技術(shù)的發(fā)展給精密測(cè)試領(lǐng)域注入了新的活力，它將光學(xué)技術(shù)與現(xiàn)代計(jì)算機(jī)技術(shù)相結(jié)合，具有非接觸、測(cè)量精度高、信息容量大且效率高的特點(diǎn)，并且已近廣泛應(yīng)用到人們工作生活的方方面面。
　　 本論文主要研究了光學(xué)測(cè)量中的數(shù)字散斑照相術(shù)的基本理論、工作原理、測(cè)量方法以及技術(shù)特點(diǎn)等。研究采用目前國(guó)內(nèi)外的先進(jìn)記錄介質(zhì)CCD(Charge-coupledDevice)和用于讀寫的光電器件電尋址液晶(Electrically Addressed

2、Liquid CrystalDisplay)，實(shí)現(xiàn)了散斑照相技術(shù)的數(shù)字化。分別設(shè)計(jì)了主觀散斑和客觀散斑兩種散斑記錄光路采集被測(cè)物體位移前后的散斑圖，并用全場(chǎng)分析和逐點(diǎn)分析兩種散斑圖分析方法處理所拍攝散斑圖獲得了高對(duì)比度的散斑干涉條紋圖。
　　 另外，由于實(shí)驗(yàn)所記錄的干涉圖噪聲大、灰度值不均勻等特點(diǎn)，本文進(jìn)行了條紋圖中噪聲處理的算法研究，本論文針對(duì)這些特點(diǎn)做了圖像處理。利用形態(tài)學(xué)運(yùn)算以及圖像增強(qiáng)等降低噪聲，使散斑圖實(shí)現(xiàn)高信噪比。<