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文檔簡介
1、負(fù)壓檢測(cè)電路在確保負(fù)壓驅(qū)動(dòng)芯片的正常工作中起到重要作用,近年來得到廣泛關(guān)注。傳統(tǒng)負(fù)壓檢測(cè)電路需要引入負(fù)基準(zhǔn)電壓,對(duì)于本身不帶負(fù)電壓的芯片,這一電壓可以從片外引入,但難以滿足片上集成的要求,如何實(shí)現(xiàn)在不引入負(fù)基準(zhǔn)電壓的情況下完成正電壓供電下負(fù)壓的檢測(cè)成為當(dāng)今學(xué)術(shù)界研究熱點(diǎn)。因此,研究負(fù)壓檢測(cè)電路具有理論意義和實(shí)用價(jià)值。
本論文設(shè)計(jì)了一種高精度、寬溫度范圍負(fù)壓檢測(cè)電路,在不引入負(fù)基準(zhǔn)電壓的情況下實(shí)現(xiàn)正電壓供電下負(fù)壓的檢測(cè),并且實(shí)現(xiàn)
2、高精度檢測(cè)與寬溫度范圍內(nèi)工作。首先,本文研究了正電壓供電下負(fù)壓檢測(cè)電路的實(shí)現(xiàn)方法,設(shè)計(jì)了一款采樣電壓生成電路,該電路由穩(wěn)定輸出固定2.5V電壓的低壓線性穩(wěn)壓管(Low Dropout Regulator,LDO)和電阻分壓網(wǎng)絡(luò)組成,其作用是將輸入的負(fù)電壓信號(hào)抬高得到正采樣電壓。設(shè)計(jì)中,LDO中誤差放大器采用折疊式共源共柵結(jié)構(gòu)提高環(huán)路增益,提高LDO精度。其次,為滿足高精度、寬溫度范圍的要求,基于該方法深入分析了影響負(fù)壓檢測(cè)電路精度和工作
3、溫度范圍的內(nèi)在機(jī)理,設(shè)計(jì)了一款對(duì)溫度及電源電壓,甚至對(duì)工藝條件影響都不敏感的帶隙基準(zhǔn)電壓源電路,一款高精度電壓比較器。該比較器采用兩級(jí)前置預(yù)放大級(jí)加一級(jí)鎖存級(jí)的電路結(jié)構(gòu),并在前置預(yù)放大級(jí)中引入共模反饋電路提高增益,提高比較器精度,同時(shí),針對(duì)鎖存級(jí)負(fù)向輸入端的負(fù)載管采用PMOS管作為負(fù)電阻同二極管連接的PMOS管并聯(lián),折中考慮了精度和速度對(duì)增益和帶寬的要求,使得比較器具有較高檢測(cè)精度的同時(shí)實(shí)現(xiàn)快速比較,比較結(jié)果經(jīng)過推挽輸出級(jí)并經(jīng)過兩級(jí)輸出
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