2023年全國碩士研究生考試考研英語一試題真題(含答案詳解+作文范文)_第1頁
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文檔簡介

1、逐次逼近型模數(shù)轉(zhuǎn)換器(Successive Approximation Analog to Digital Converter,SAR ADC)作為一種經(jīng)典的ADC結(jié)構(gòu),因其結(jié)構(gòu)簡單、與數(shù)字電路兼容性好和功耗低等優(yōu)點在近幾年內(nèi)獲得廣泛的關(guān)注和極大的發(fā)展。并且由于SAR ADC的功耗與采樣率線性相關(guān),對于一些醫(yī)療設(shè)備等不需要連續(xù)采樣或者輸入信號變化不顯著的應(yīng)用非常有利。
  論文的目標(biāo)是設(shè)計中等速度中等精度下低功耗SARADC。論文

2、綜述了近年來SARADC的國內(nèi)外研究發(fā)展現(xiàn)狀,比較分析了低功耗ADC的實現(xiàn)方式。論文原理圖設(shè)計包括模數(shù)轉(zhuǎn)換器(Digital toAnalog Converter,DAC)設(shè)計、比較器設(shè)計、異步邏輯設(shè)計、開關(guān)設(shè)計和數(shù)字誤差校準(zhǔn)(Digital ErrorCorrection,DEC)設(shè)計。針對低功耗的要求,本論文選擇了電容陣列型DAC和單調(diào)開關(guān)轉(zhuǎn)換方式,并通過復(fù)用已經(jīng)動作的電容,防止比較器輸入共模電平持續(xù)降低到地。DAC結(jié)構(gòu)方面,通過拆

3、分高位電容疊加到原本二進制電容陣列上的方法形成非二進制冗余電容。選擇低功耗比較器方案,并設(shè)計比較器失調(diào)電路和亞穩(wěn)態(tài)檢測電路,設(shè)計了異步自控制的邏輯控制模塊,避免高速的外部時鐘。
  基于SMIC180nm CMOS工藝完成原理圖設(shè)計、版圖設(shè)計及后仿真。版圖面積為340μm×370μm。工作電源1.8V,采樣時鐘為30MHz,差分輸入頻率9.023MHz的單音正弦信號下后仿真結(jié)果顯示SINAD為50dB,SFDR為58.4dB,EN

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