ic內(nèi)置熔絲熔斷方法

1、電源招聘專(zhuān)家IC內(nèi)置熔絲熔斷方法內(nèi)置熔絲熔斷方法1引言引言某些計(jì)量電路為了防止工藝上電阻溫度階溫度因子的偏差，采用了熔絲結(jié)構(gòu)以得到更精確的基準(zhǔn)。在圓片測(cè)試時(shí)，可以根據(jù)電路實(shí)際基準(zhǔn)點(diǎn)在一定范圍內(nèi)進(jìn)行調(diào)整，使出廠電路的基準(zhǔn)更加精確，一致性更好?？膳渲眯砸彩前雽?dǎo)體發(fā)展的一個(gè)方向。對(duì)于可編程電路，可根據(jù)市場(chǎng)的需求燒熔絲編程，使電路具有更強(qiáng)的適應(yīng)性，而且熔絲是一次性編程，具有更強(qiáng)的安全性。一個(gè)優(yōu)秀的測(cè)試程序應(yīng)當(dāng)有明顯的模塊化，簡(jiǎn)明有效、邏輯性強(qiáng)。

2、這樣的程序便于他人閱讀理解和相互交流，也有利于調(diào)試過(guò)程中的修改調(diào)整。2熔絲熔斷的硬件設(shè)計(jì)熔絲熔斷的硬件設(shè)計(jì)2.1硬件設(shè)計(jì)原理熔絲是集成電路生產(chǎn)中所使用的一項(xiàng)重要技術(shù)。熔絲的結(jié)構(gòu)如圖1。熔絲可以用金屬(鋁、銅等)或硅制成。熔斷熔絲需要較大的瞬間電流。具體所需電流，根據(jù)實(shí)際條寬和厚度而不盡相同，一般通常是幾百毫安。如此大的電流對(duì)測(cè)試儀的PE板很容易造成損傷，況且并不是所有測(cè)試儀的PE板都具備這樣的電流驅(qū)動(dòng)能力。為了能提供足夠大的瞬問(wèn)電流，又

3、保護(hù)PE卡不受損，我們?cè)O(shè)計(jì)的硬件方案使熔絲引線(xiàn)不接入測(cè)試儀的通道，而通過(guò)電容放電來(lái)提供熔斷熔絲所需的瞬間大電流。電容的充電、放電由繼電器來(lái)控制，而續(xù)電器的開(kāi)啟、閉合由測(cè)試儀通道(所選擇通道由用戶(hù)根據(jù)需要任意定義)提供電壓來(lái)控制。原理圖如圖2。在通常情況下，CH33和CH34默認(rèn)值為0.0V。繼電器RELAY1和RELAY2不工作。此時(shí)電容電源招聘專(zhuān)家3.2傳統(tǒng)方法在對(duì)芯片進(jìn)行測(cè)試時(shí)，根據(jù)實(shí)際測(cè)得的頻率值選擇相應(yīng)的熔絲方案，燒斷所對(duì)應(yīng)的熔