硬盤故障

1、硬盤故障分類硬盤各部位常見故障匯總：1）硬盤的供電：硬盤的供電取自主機的開關(guān)電源，四個接線柱的電壓分別為：紅色為正5V，黑色為地線，黃色為正12V，通過線性電源變換電路，變換為硬盤正常工作的各種電壓。硬盤的供電電路如果出現(xiàn)問題，會直接導(dǎo)致硬盤不能工作。故障現(xiàn)象往往表現(xiàn)為不通電、硬盤檢測不到、盤片不轉(zhuǎn)、磁頭不尋道等。供電電路常出問題的部位是：插座的接線柱、濾波電容、二極管、三極管、場效應(yīng)管、電感、保險電阻等。2）接口：接口是硬盤與計算機之

2、間傳輸數(shù)據(jù)的通路，接口電路如出現(xiàn)故障可能會導(dǎo)致硬盤檢測不到、亂碼、參數(shù)誤認等現(xiàn)象。接口電路常出故障的部位是接口芯片或與之匹配的晶振壞、接口插針斷或虛焊或臟污、接口排阻損壞，部分硬盤的接口塑料損壞導(dǎo)致廠家不予保修。3）緩存：用于加快硬盤數(shù)據(jù)傳輸速度，如出現(xiàn)問題可能會導(dǎo)致硬盤不被識別、亂碼、進入操作系統(tǒng)后異常死機等現(xiàn)象。4）BIOS：用于保存與硬盤容量、接口信息等，硬盤所有的工作流程都與BIOS程序相關(guān)，通斷電瞬間可能會導(dǎo)致BIOS程序丟失

3、或紊亂。BIOS不正常會導(dǎo)致硬盤誤認、不能識別等各種各樣的故障現(xiàn)象。5）磁頭芯片：貼裝在磁頭組件上，用于放大磁頭信號、磁頭邏輯分配、處理音圈電機反饋信號等，該芯片出現(xiàn)問題可能會出現(xiàn)磁頭不能正確尋道、數(shù)據(jù)不能寫入盤片、不能識別硬盤、異響等故障現(xiàn)象。6）前置信號處理器：用于加工整理磁頭芯片傳來的數(shù)據(jù)信號，該芯片如出現(xiàn)問題可能會出現(xiàn)不能正確識別硬盤的故障現(xiàn)象。7）數(shù)字信號處理器：用于處理前置信號處理器傳過來的數(shù)據(jù)信號，并對該信號解碼或接收計算

4、機傳過來的數(shù)據(jù)信號，并對該信號進行編碼。8）電機驅(qū)動芯片：用于驅(qū)動硬盤主軸電機和音圈電機?，F(xiàn)在的硬盤由于轉(zhuǎn)速太高導(dǎo)致該芯片發(fā)熱量太大而損壞，據(jù)不完全統(tǒng)計，70%左右的硬盤電路路障是由該芯片損壞引起。9）盤片：用于存儲硬盤數(shù)據(jù)，輕微劃傷時可通過軟件按一定的算法解碼糾錯，嚴重劃傷時，數(shù)據(jù)不可恢復(fù)。10）主軸電機：用于帶動盤片高速旋轉(zhuǎn)，現(xiàn)在的硬盤大多使用液態(tài)軸承馬達，精度極高，劇烈碰撞后可能會使間隙變大，讀取數(shù)據(jù)變得困難、異響或根本檢測不到硬

5、盤。該故障現(xiàn)象需用專用設(shè)備才能讀取里面的數(shù)據(jù)。11）磁頭：用于讀取或?qū)懭胗脖P數(shù)據(jù)，受到劇烈碰撞時易于損壞，導(dǎo)致不認硬盤。硬盤受到碰撞后受損可能性更大的是磁頭。12）音圈電機：閉環(huán)控制電機，用于把磁頭準確定位在磁道上。該電機較少損壞。13）定位卡子：用于使磁頭停留在啟停區(qū)，IBM等系列的硬盤的卡子易錯位，導(dǎo)致磁頭不能正常尋道。在無開盤維修條件的情況下，可按一定的角度適當敲擊硬盤，使卡子回復(fù)到正確位置。硬盤電機驅(qū)動芯片打阻值：硬盤電機驅(qū)動芯

6、片是硬盤電路部分最易損壞的芯片，70%左右的硬盤電路故障是由該芯片損壞引起。而電機驅(qū)動芯片到底是否損壞可通過芯片周圍引腳對地打阻值來大致判斷。下列表格是常見硬盤電機驅(qū)動芯片各引腳對地反向阻值表。用于確認電機驅(qū)動芯片是否損壞。數(shù)據(jù)測試采用9205型數(shù)字萬用表，紅表筆接地，黑表筆指向被測引腳。對于只有兩面有引腳的芯片，從第一個引腳開始按逆時針方向的引腳用兩列數(shù)字來表示，其中第一列表示的是第一面的阻值，第二列表示第二面的阻值。對于四面都有引腳

7、的芯片，從第一個引腳開始按逆時針方向的引腳用四列數(shù)字來表示，其中1706寫操作失敗1707道信號錯1708磁頭選擇信號有錯1709ECC檢驗錯1710讀數(shù)據(jù)時扇區(qū)緩沖器溢出1711壞的地址標志1712不可識別的錯誤1713數(shù)據(jù)比較錯1780硬盤驅(qū)動器C故障1781D盤故障1782硬盤控制器錯1790C盤測試錯1791D盤測試錯壞道讓人傷心硬盤缺陷探秘硬盤是目前PC系統(tǒng)中最主要的存儲設(shè)備，同時硬盤是PC系統(tǒng)中出故障率最高的部件。用戶在使用

8、硬盤過程中，硬盤出現(xiàn)故障怎么辦呢？如果還在質(zhì)保期內(nèi)，當然是盡量找到銷售商要求保修。但現(xiàn)在大多數(shù)IDE硬盤質(zhì)保期只有一年，而大多數(shù)用戶都希望一個硬盤能使用三年以上。如果質(zhì)保期過后硬盤出了故障，就得考慮更換或?qū)λM行修理。筆者這幾年來一直從事硬盤維修工作，經(jīng)常與國內(nèi)外的同行交流，查閱過大量的外文專業(yè)資料，研究使用過多種專業(yè)的硬盤修復(fù)工具，成功修復(fù)了近萬個硬盤。在這里，筆者與讀者探討一些硬盤缺陷及其修復(fù)原理，同時介紹并解釋一些專業(yè)修復(fù)硬盤軟件

9、中常用到的概念。但筆者暫不探討在各種操作系統(tǒng)下硬盤中的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)問題及數(shù)據(jù)恢復(fù)問題，而是直接探討硬盤本身的缺陷問題。一、缺陷的分類如果經(jīng)檢測發(fā)現(xiàn)某個硬盤不能完全正常工作，則稱這個硬盤是“有缺陷的硬盤”（DefectHardDisk）。根據(jù)維修經(jīng)驗，筆者將硬盤的缺陷分為六大類①壞扇區(qū)（Badsect），也稱缺陷扇區(qū)（Defectsect）②磁道伺服缺陷（TrackServodefect）③磁頭組件缺陷（Headsassemblydefec

10、t）④系統(tǒng)信息錯亂（Serviceinfmationdestruction）⑤電子線路缺陷（Theboardofelectronicsdefect）⑥綜合性能缺陷（Complexreliabilitydefect）1.壞扇區(qū)（也稱缺陷扇區(qū)）指不能被正常訪問或不能被正確讀寫的扇區(qū)。一般表現(xiàn)為：高級格式化后發(fā)現(xiàn)有“壞簇（BadClusters）；用SCISK等工具檢查發(fā)現(xiàn)有“B”標記；或用某些檢測工具發(fā)現(xiàn)有“扇區(qū)錯誤提示”等。一般每個扇區(qū)可

11、以記錄512字節(jié)的數(shù)據(jù)，如果其中任何一個字節(jié)不正常，該扇區(qū)就屬于缺陷扇區(qū)。每個扇區(qū)除了記錄512字節(jié)的數(shù)據(jù)外，另外還記錄有一些信息：標志信息、校驗碼、地址信息等，其中任何一部分信息不正常都導(dǎo)致該扇區(qū)出現(xiàn)缺陷。多數(shù)專業(yè)檢測軟件在檢測過程中發(fā)現(xiàn)缺陷時，都有類似的錯誤信息提示，常見的扇區(qū)缺陷主要有幾種情況：①校驗錯誤（ECCuncrectableerrs，又稱ECC錯誤）。系統(tǒng)每次在往扇區(qū)中寫數(shù)據(jù)的同時，都根據(jù)這些數(shù)據(jù)經(jīng)過一定的算法運算生成一