LED壽命預(yù)測(cè)技術(shù).pdf

1、半導(dǎo)體照明是目前國(guó)家重點(diǎn)扶持的新興產(chǎn)業(yè)，近年來(lái)，LED技術(shù)已經(jīng)取得了引人注目的性能提升，繼而LED照明燈具的光效也得到了改善。進(jìn)一步改進(jìn)對(duì)LED及其配套元件的設(shè)計(jì)，可以?xún)?yōu)化LED的性能，促進(jìn)LED照明燈具市場(chǎng)的發(fā)展。對(duì)LED可靠性的研究是提高其可靠性的前提與基礎(chǔ)，本論文研究LED可靠性預(yù)測(cè)機(jī)制中相關(guān)壽命預(yù)測(cè)的部分，嘗試一種在兩種應(yīng)力條件下的加速壽命試驗(yàn)，實(shí)現(xiàn)對(duì)LED可靠性量化預(yù)測(cè)的新方法，它能節(jié)省壽命試驗(yàn)成本，為L(zhǎng)ED早期失效篩選及產(chǎn)品

2、質(zhì)量管理提供依據(jù)，對(duì)于LED科研與產(chǎn)業(yè)都具有重要的學(xué)術(shù)價(jià)值和實(shí)用價(jià)值。
　　本文基于大量的計(jì)算推導(dǎo)以及實(shí)驗(yàn)室加速壽命試驗(yàn)，系統(tǒng)的研究了LED的可靠性，得到了壽命試驗(yàn)和失效分析的結(jié)果，對(duì)器件可靠性影響最大的熱特性進(jìn)行了分析。具體的研究?jī)?nèi)容包括：
　　1.加速壽命測(cè)試：設(shè)計(jì)了加速壽命試驗(yàn)，結(jié)合各壽命試驗(yàn)?zāi)Ｐ?，外推得到高溫加速與電流加速下的壽命方法，并且推導(dǎo)獲得了雙應(yīng)力下的加速壽命試驗(yàn)，確定了實(shí)驗(yàn)方案，繪制了壽命-應(yīng)力曲線(xiàn)圖。需要

3、指出的是在電流下的試驗(yàn)樣品是LED單件，并不包括驅(qū)動(dòng)及燈具外殼等，因此實(shí)際應(yīng)用中由于受燈具外壁、驅(qū)動(dòng)壽命以及各引線(xiàn)與引線(xiàn)鍵合處可靠性的影響，將使得器件的壽命要比此值低。
　　2.LED的熱特性分析：分析了高溫下LED的效能損失及其產(chǎn)生原理，認(rèn)為環(huán)境溫度和工作電流是主要成因。根據(jù)壽命-應(yīng)力曲線(xiàn)圖解析了熱效應(yīng)對(duì)壽命的影響，認(rèn)為L(zhǎng)ED的熱效應(yīng)會(huì)加速器件的失效，大大縮減期間壽命，并對(duì)此提出了解決方案。
　　3.失效分析：設(shè)計(jì)加速試驗(yàn)