4πβ+4πγ計數(shù)法活度測量裝置的建立及系統(tǒng)檢驗.pdf

1、隨著核燃料裂變?nèi)己姆治觥⒅凶踊驇щ娏Ｗ踊罨治?、核?shù)據(jù)準確測量工作的發(fā)展，對放射性活度的準確測量提出了越來越高的要求，尤其是對短壽命核素的活度及γ射線發(fā)射幾率、半衰期等核衰變參數(shù)的準確測量提出了新的要求。針對這些問題，出現(xiàn)了各種測量核衰變參數(shù)的方法，本論文所研究的4πβ+4πγ計數(shù)法就是測量放射性活度及其它核參數(shù)的新方法。 4πβ+4πγ計數(shù)法活度測量裝置是建立在4πγNaI(T1)計數(shù)法及符合法基礎(chǔ)上的。該方法是把待測VYNS

2、薄膜源放進小型的4πβ正比計數(shù)管內(nèi)，再把4πβ正比計數(shù)管放到大的阱型4πγNaI(T1)探測器，同時測量核衰變產(chǎn)生的粒子(β、α或X射線)和γ射線。 本論文詳細地描述了4πβ+4πγ計數(shù)法活度測量裝置的組成及結(jié)構(gòu)、活度測量的原理及γ射線發(fā)射幾率的測量原理、各個探測器性能的調(diào)試過程，簡要的介紹了MPA-3多參數(shù)數(shù)據(jù)獲取系統(tǒng)的組成及功能，詳細地描述了用4πβ+4πγ計數(shù)法測量60Co薄膜源活度的過程及外推法數(shù)據(jù)處理的過程，并把得到的