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文檔簡介
1、PIN探測器受不同功率密度的激光輻照時，會出現(xiàn)不同程度的損傷，甚至無法正常工作。本文對不同功率密度的激光輻照PIN探測器這一課題進行了系統(tǒng)的研究。首先從理論上對激光和半導(dǎo)體的相互作用和損傷閾值的測量方法做了簡單的介紹。然后使用散射光能量法對PIN探測器的損傷閾值做了測量，使用CCD探測器對受不同功率密度激光輻照后的散射光的光強分布以及表面形貌做了觀測，得到實驗所用的PIN探測器的損傷閾值為4.1×108W/cm2，此時探測器反射率下降了
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