聚合物微流控芯片模內(nèi)鍵合溫度控制與鍵合工藝研究.pdf_第1頁
已閱讀1頁,還剩70頁未讀, 繼續(xù)免費閱讀

下載本文檔

版權(quán)說明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請進行舉報或認領(lǐng)

文檔簡介

1、近年來,微流控芯片憑借快速、高效、低耗等特點,在化學(xué)與生物分析領(lǐng)域內(nèi),獲得了越來越多的關(guān)注。聚合物材料具有成本低、易于大批量生產(chǎn)的優(yōu)點,彌補了石英、玻璃等早期芯片材料的不足,同時聚合物以其良好的電化學(xué)性質(zhì)和生物兼容性成為微流控芯片最理想的制備材料。當前聚合物微流控芯片的成型與鍵合相互分離,芯片制作周期長,效率低。本文旨在實現(xiàn)聚合物芯片低成本、批量化制造,引入芯片模內(nèi)鍵合技術(shù),圍繞模內(nèi)鍵合加熱系統(tǒng)與模內(nèi)鍵合工藝參數(shù)對芯片鍵合質(zhì)量的影響進行

2、研究。
   本文根據(jù)聚合物分子擴散理論和吸附理論,描述芯片鍵合過程,從芯片表面張力和鍵合能的角度探明了熱鍵合發(fā)生的原因,并對現(xiàn)有芯片鍵合工藝進行分析,在理論上證明聚合物芯片模內(nèi)鍵合的可行性。并對微流控芯片表面微觀質(zhì)量、微通道變形、鍵合強度以及影響上述鍵合質(zhì)量的因素進行研究,確定芯片鍵合質(zhì)量評價方法;
   采用有限元的方法對微流控芯片熱鍵合過程中主要鍵合參數(shù)對微通道變形的影響進行數(shù)值模擬分析,結(jié)果表明:鍵合后微通道高度

3、方向上的變形較大,在寬度方向上變形不明顯,可忽略不計。微通道高度改變量隨鍵合溫度和鍵合壓力的升高而增大,鍵合溫度對高度改變量存在較大影響,當鍵合溫度高于材料玻璃化轉(zhuǎn)變溫度時,微通道變形較為嚴重,綜合考慮鍵合效率與微通道變形。
   分析模內(nèi)鍵合加熱需求,選取遠紅外陶瓷加熱器對芯片鍵合表面進行加熱,設(shè)計開發(fā)模內(nèi)鍵合加熱及采用PID算法的溫度控制系統(tǒng),完成PID參數(shù)整定,使加熱器穩(wěn)定工作在設(shè)定溫度值附近。進行鍵合面加熱實驗,得出各加

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無特殊說明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁內(nèi)容里面會有圖紙預(yù)覽,若沒有圖紙預(yù)覽就沒有圖紙。
  • 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
  • 5. 眾賞文庫僅提供信息存儲空間,僅對用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護處理,對用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對任何下載內(nèi)容負責。
  • 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當內(nèi)容,請與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準確性、安全性和完整性, 同時也不承擔用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

評論

0/150

提交評論