基于掃描鏈阻塞技術(shù)降低測試費用的方法研究.pdf

1、為了保證集成電路產(chǎn)品的質(zhì)量，測試是非常重要的一個環(huán)節(jié)，然而隨著被測電路變得日益復(fù)雜，集成度不斷提高，測試變得非常困難，測試成本越來越高。因此，如何解決測試成本過高，并且實現(xiàn)對集成電路高效測試的問題將變得尤為重要。一種基于掃描鏈阻塞技術(shù)的掃描測試結(jié)構(gòu)被提出來，該結(jié)構(gòu)有效地降低了測試功耗，但其測試應(yīng)用時間較長。
　　 為了克服這一缺陷，本文提出了一種基于TSP問題降低測試應(yīng)用時間的方法。該方法利用了測試向量之間的相容性，降低測試應(yīng)用

2、時間。其實現(xiàn)方法是：將需要施加到被測電路的測試向量看作節(jié)點，將掃描移入這些測試向量看成是遍歷這些節(jié)點。通過這些節(jié)點兩兩之間的距離構(gòu)造一個有向完全圖，將求最小測試應(yīng)用時間的問題轉(zhuǎn)化為求遍歷圖中所有節(jié)點的最小距離問題。該問題等價于非對稱的TSP問題，進而可以用相應(yīng)的啟發(fā)式算法求解。實驗結(jié)果表明該方法有效地減少測試應(yīng)用時間，并且不需要額外的硬件代價。
　　 其次，本文利用可控LFSR改進掃描鏈阻塞結(jié)構(gòu)，以達(dá)到降低測試應(yīng)用時間和測試數(shù)據(jù)