無機(jī)納米聚酰亞胺耐局放裝置的改進(jìn)及其耐局放性能測(cè)量.pdf_第1頁
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1、作為在交流調(diào)速電機(jī)中廣泛采用的薄膜絕緣材料,其性能的優(yōu)劣直接影響到電機(jī)在使用過程中的運(yùn)行狀況.絕緣薄膜材料在長(zhǎng)期的運(yùn)行過程中,受到電、熱、機(jī)械和環(huán)境因素的聯(lián)合作用,其性能將因此逐漸變壞,并最終導(dǎo)致絕緣擊穿.為了保障交流調(diào)速電動(dòng)機(jī)高效、安全運(yùn)行,絕緣診斷和剩余壽命評(píng)估技術(shù)顯得日益迫切和重要.該文在對(duì)實(shí)驗(yàn)室原有耐局部放電試驗(yàn)裝置存在的問題進(jìn)行總結(jié)的基礎(chǔ)上,重點(diǎn)介紹了耐局部放電試驗(yàn)裝置的整體結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)方案、主要性能和技術(shù)路線、硬件工作原理、接口

2、電路設(shè)計(jì)的情況;詳細(xì)描述了裝置軟件的設(shè)計(jì)要求、軟件程序編寫的原理及使用方法.在介紹系統(tǒng)軟硬件設(shè)計(jì)的同時(shí),結(jié)合系統(tǒng)調(diào)試的實(shí)踐,論文對(duì)系統(tǒng)干擾問題和系統(tǒng)數(shù)據(jù)采集等有關(guān)問題,特別是在系統(tǒng)屏蔽外界干擾方面進(jìn)行了深入的探討.實(shí)際運(yùn)行表明,以MCS-51單片機(jī)為核心的系統(tǒng)結(jié)構(gòu),結(jié)合一定的軟件和硬件方面的改進(jìn),能夠屏蔽外界干擾信號(hào).該系統(tǒng)為薄膜材料耐電暈性能的檢測(cè)提供了一定的數(shù)據(jù).裝置中的軟件和硬件能夠按照設(shè)計(jì)要求平穩(wěn)運(yùn)行.改進(jìn)后的試驗(yàn)系統(tǒng)具有良好的

3、穩(wěn)定性和安全性,系統(tǒng)體積大為減少,操作簡(jiǎn)便,保護(hù)操作人員的安全.論文利用該測(cè)量裝置進(jìn)行了一系列的試驗(yàn).首先,對(duì)美國(guó)杜邦公司出產(chǎn)的聚酰亞胺薄膜絕緣材料進(jìn)行了一系列耐局部放電試驗(yàn),結(jié)果顯示,薄膜在40kV/mm和20kV/mm場(chǎng)強(qiáng)下,絕緣材料發(fā)生破壞的時(shí)間分別為13小時(shí)和51小時(shí),前者與杜邦公司材料上介紹的數(shù)據(jù)基本一致,而后者則僅為其1/2.其次,對(duì)該課題組自主制備的納米摻雜聚酰亞胺薄膜試樣和杜邦公司生產(chǎn)的納米摻雜絕緣材料進(jìn)行了初步試驗(yàn),結(jié)

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