插拔對電連接器接觸件貯存壽命影響的研究.pdf

1、一些型號定壽延壽意義重大，電連接器作為型號上各單元之間傳遞電能和信號的基礎機電元件，其壽命評估是型號定壽延壽的重要前提。目前，針對貯存電連接器的壽命評估主要是考察溫度的影響，而尚未考慮型號庫存測試時的插拔所產生的效應，不能完全反映電連接器在貯存過程中經歷的實際應力狀態(tài)，其評估結果難以準確地指導工程評判。本文以Y11P-1419型電連接器為對象，結合失效機理分析和加速退化試驗研究，揭示貯存電連接器計入插拔與不計入插拔的效應，并結合試驗數據

2、評估計入插拔與不計入插拔的定量壽命區(qū)別，進而為更準確地評估型號上電連接器的貯存壽命提供理論支撐和實踐指導。
　　論文的主要工作如下：
　　1．闡述了本文的研究背景與意義，總結了貯存壽命評估的國內外研究現狀，以及加速壽命和加速退化試驗的發(fā)展歷程，根據電連接器貯存壽命研究的國內外現狀，指出目前電連接器貯存壽命評估中的不足，進而提出了本文的研究目標和主要研究內容。
　　2．根據型號上電連接器的使用情況以及型號對電連接器的功能

3、要求，總結了型號上常用的電連接器類別及其主要特點，詳細分析了Y11P-1419型電連接器隨著型號貯存時的貯存剖面、貯存應力和失效模式，并從失效機理層面揭示了插拔對貯存電連接器接觸性能的影響：插拔造成插拔后的阻值跳變；插拔過程刮擦磨損鍍金層和氧化膜，加速后續(xù)貯存期間的氧化腐蝕。
　　3．設計了嚴格的加速退化對照試驗，證實了插拔后阻值出現跳變現象，通過設計補充試驗，得到了插拔后接觸性能恢復穩(wěn)態(tài)的時間，采用非參數統(tǒng)計方法判別試驗數據，結

4、果表明插拔加快了電連接器的退化速度，并結合試驗樣品微觀接觸表面的SEM和EDS分析，直觀地驗證了計入插拔的電連接器失效機理。
　　4．結合電連接器微觀表面的電勢變化和電接觸理論，建立了包含微觀影響因子的接觸電阻數學模型，進一步計入接觸件長期貯存時的蠕變和應力松弛，建立了接觸電阻退化模型；采用回歸分析和最小二乘法估計了模型參數，并基于試驗數據得到了120℃下的電連接器加速退化軌跡，計算得到計入插拔后電連接器接觸件的平均壽命減少了22