插拔對(duì)電連接器接觸性能退化規(guī)律影響的研究.pdf

1、電連接器作為一種基礎(chǔ)元器件，其主要作用是實(shí)現(xiàn)電信號(hào)的傳輸和控制，在型號(hào)系統(tǒng)中應(yīng)用廣泛、數(shù)量眾多、地位重要。為了滿足型號(hào)系統(tǒng)日益提高的可靠性要求，系統(tǒng)對(duì)電連接器的貯存壽命要求已達(dá)到20～30年。目前在評(píng)估電連接器的貯存壽命時(shí)，主要考慮了溫度對(duì)其性能退化的影響，尚未考慮測(cè)試過(guò)程中插拔的影響。本文以型號(hào)上常用的Y11P-1419型電連接器為研究對(duì)象，在分析電連接器的貯存環(huán)境效應(yīng)和失效機(jī)理的基礎(chǔ)上，通過(guò)加速退化試驗(yàn)揭示了插拔對(duì)電連接器接觸性能的

2、影響規(guī)律，并利用試驗(yàn)數(shù)據(jù)對(duì)考慮插拔的電連接器貯存可靠度和貯存壽命進(jìn)行了評(píng)估，為進(jìn)一步的研究奠定了基礎(chǔ)。
　　全文共分五章，每章的主要內(nèi)容如下:
　　第一章闡述了論文的研究背景和重要意義，介紹了貯存可靠性、加速退化試驗(yàn)技術(shù)以及電連接器貯存可靠性的國(guó)內(nèi)外研究現(xiàn)狀及其存在的問(wèn)題，進(jìn)而提出了本文的研究目標(biāo)和主要的研究?jī)?nèi)容。
　　第二章總結(jié)了型號(hào)上常用電連接器的結(jié)構(gòu)、類型和功能要求，基于電連接器的貯存環(huán)境效應(yīng)和失效模式分析，確定

3、了接觸失效是電連接器的主要失效模式，并從微觀層面上研究了貯存過(guò)程中插拔對(duì)電連接器接觸性能的影響，得到了插拔會(huì)磨損接觸表面的鍍金層和氧化物膜層，加快后期貯存過(guò)程中接觸表面氧化膜層的增長(zhǎng)速率，同時(shí)插拔會(huì)使電連接器的接觸電阻突然增大。
　　第三章設(shè)計(jì)了不考慮插拔和考慮插拔的加速退化試驗(yàn)，利用接觸電阻的加速退化軌跡驗(yàn)證了插拔對(duì)電連接器接觸性能的影響，得出了插拔不僅會(huì)加快電連接器的退化速率，而且會(huì)使電連接器接觸電阻的退化軌跡產(chǎn)生跳變現(xiàn)象，并

4、對(duì)跳變的幅度和跳變的回彈時(shí)間進(jìn)行了分析，最后利用掃描電鏡和能譜分析證實(shí)了考慮插拔的電連接器接失效機(jī)理。
　　第四章根據(jù)電接觸理論推導(dǎo)出了考慮插拔的電連接器貯存可靠性評(píng)估模型，并采用最小二乘法估計(jì)出了上述模型中的參數(shù)，運(yùn)用上述模型得出了考慮插拔的電連接器貯存可靠度，利用加速退化試驗(yàn)所得數(shù)據(jù)預(yù)測(cè)了考慮插拔的電連接器貯存壽命，估計(jì)出在正常環(huán)境下電連接器的貯存壽命約為32年。
　　第五章總結(jié)了全文的研究?jī)?nèi)容，并對(duì)下一步的研究方向進(jìn)行