通用測試系統(tǒng)軟件架構(gòu)及關(guān)鍵技術(shù)的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn).pdf

1、自動測試系統(tǒng)的技術(shù)發(fā)展水平是武器發(fā)展及工業(yè)自動化發(fā)展的有力保障,為解決大量自動測試系統(tǒng)的可重用及可拓展需求,基于可重配置思想設(shè)計(jì)了通用測試系統(tǒng)的軟件架構(gòu)并闡述了其中的關(guān)鍵技術(shù)。
　　本文首先根據(jù)實(shí)際工程中對軟硬件測試資源的可重用需求提出了基于PXI總線的通用測試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)。在研究ATML標(biāo)準(zhǔn)體系的基礎(chǔ)上，借助標(biāo)準(zhǔn)化的測試信息描述方法設(shè)計(jì)了可重配置的通用測試系統(tǒng)軟件架構(gòu)，通用測試系統(tǒng)軟件可通過ATML測試文檔描述工具生成的標(biāo)準(zhǔn)描述文件

2、進(jìn)行重新配置。
　　利用Labwindows/CVI開發(fā)環(huán)境下的cvixml.fp庫文件設(shè)計(jì)了滿足ATML標(biāo)準(zhǔn)的XML描述文件解析及封裝技術(shù)。在此基礎(chǔ)上，參照ATML體系中的IEEE1671.1標(biāo)準(zhǔn)確定了測試序列信息的描述方法，給出了各內(nèi)容在標(biāo)準(zhǔn)文檔中的承載方式及位置，設(shè)計(jì)了對應(yīng)的測試序列編輯工具，并編寫了實(shí)例程序。提出完整的被測單元信息由產(chǎn)品接口信息（IEEE1671.5）、測試結(jié)果信息（IEEE1636.1）和產(chǎn)品信息（IEE

3、E1671.3）三部分構(gòu)成，依據(jù)各自符合的ATML子組件標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)了對應(yīng)的信息描述及內(nèi)容承載方式，設(shè)計(jì)了對應(yīng)的ATML測試文檔描述工具，并編寫實(shí)例程序說明了測試信息的封裝流程。
　　依據(jù)可重配置軟件架構(gòu)的設(shè)計(jì)思路和使用習(xí)慣,設(shè)計(jì)了通用測試系統(tǒng)軟件的操作界面,并提出了功能預(yù)留區(qū)域的設(shè)計(jì)思想與實(shí)現(xiàn)方式。利用基于Labwindows/CVI的描述文件解析技術(shù)，結(jié)合ATML標(biāo)準(zhǔn)子組件提出了軟件各部分的重配置方法及相關(guān)的編寫技術(shù)。參照IEEE