覆蓋陣列的相關(guān)構(gòu)造.pdf

1、在軟硬件的開發(fā)過(guò)程中，測(cè)試通常是一個(gè)需要耗費(fèi)大量勞力、時(shí)間和資源的環(huán)節(jié)。為了降低軟硬件交互測(cè)試的成本，Cohen，Dalai，F(xiàn)redman，及Patton提出了由組合設(shè)計(jì)生成的交互測(cè)試方法.該方法首先確定測(cè)試的所有因素及各個(gè)因素的可能取值，然后選擇一組測(cè)試，要求測(cè)試覆蓋任意t個(gè)因素的所有可能交互情況.這正好對(duì)應(yīng)組合設(shè)計(jì)中的覆蓋陣列.覆蓋陣列CA(N；t，k，v)是一個(gè)定義在ν元集上的N×k階矩陣，滿足對(duì)于每一個(gè)N×t階子矩陣，包含ν上

2、的所有t元有序子集至少一次。參數(shù)t稱為覆蓋陣列的強(qiáng)度(strength)。
　　覆蓋陣列的主要研究問(wèn)題是對(duì)于給定的t，k，ν，盡可能的降低覆蓋次數(shù)N，或者是對(duì)于給定的t，ν，N，盡可能地增加因素?cái)?shù)k.“t=2”時(shí)的覆蓋陣列已經(jīng)被許多人研究過(guò)，例如，Katona，Kleitman和Spencer等。Chateauneuf，Kreher，Roux，和Sloane等人對(duì)“t=3”的情況進(jìn)行了研究。然而，“t≥4”時(shí)的覆蓋陣列的研究卻很少

3、。這篇文章主要研究“t≥4”時(shí)的覆蓋陣列，以及其相關(guān)的組合構(gòu)造。
　　全文共分四章。
　　第一章：綜述了覆蓋陣列的研究背景，當(dāng)前領(lǐng)域的研究成果和本文的主要結(jié)果。
　　第二章：重點(diǎn)介紹了覆蓋陣列的新構(gòu)造。主要包括兩部分，一是利用組合方法，構(gòu)造CA(N；5，νk，ν)，得出了更好的上界；二是通過(guò)引進(jìn)套娃型覆蓋陣列CA*，用CA*和DCA*構(gòu)造CA，得出了強(qiáng)度大于等于4時(shí)覆蓋陣列的一個(gè)新構(gòu)造，提供了降低覆蓋陣列的新思路。