版權(quán)說(shuō)明:本文檔由用戶(hù)提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請(qǐng)進(jìn)行舉報(bào)或認(rèn)領(lǐng)
文檔簡(jiǎn)介
1、蘇州大學(xué)碩士學(xué)位論文O等離子體處理控制多孔SiOCH薄膜中的Cu擴(kuò)散姓名:袁靜申請(qǐng)學(xué)位級(jí)別:碩士專(zhuān)業(yè):材料物理與化學(xué)指導(dǎo)教師:葉超2009050102等離子體處理控制多孔SiOCH薄膜中的Cu擴(kuò)散英文摘要ControllingCudiffusioninSiCOHlowkfilmsby02plasmatreatmentAbstractThedevicedimensioncontinuousshrinkinginultralargescal
2、eintegratedchipsleadstothesignalpropagationdelay,dissipmionandcrosslinkbetweenmetalinterconnectsInordertoaddresstheproblems,theAI/Si02structuremustbereplacedwithlowdielectricconstantmaterialsandlowresistivitymetalinterco
3、nnectsAsthesubstitutionofSi02,theporouslowdielectricconstantmaterialshavereceivedmorecloseattentionrecentlyMeanwhile,copperhasbeenadoptedasthesubstitutionofAlinterconnectsinULSIduetoitslowerresistivityHowevertheintegrati
4、onofCu/SiCOHporouslowkdielectricsremainschallengingOwingtotheexistenceofopenporesatthesurfaceofSiCOHlow—kfilms,thediffusionofCuinporousSiCOHlowkfilmsunderthebiasorthethermaltreatmentCanleadtothedeteriorationofelectricalp
5、ropertyTeducetheCudiffusion,thethinbarrierisusuallydepositedatthesurfaceofporousSiCOHfilmsSo,thenewtransitionlayermustbeintroducedtoCu/SiCOHsystemandthenewprocessmustbeusedIfwecanmakemoreopenporesatthesurfacesealedbyplas
6、masurfacetreatment,theCudiffusioninSiCOHfilmsmayalsobereducedThisworkinvestigatestheCudiffusioninSiCOHlowdielectricconstantfilmstreatedby02plasmaBycapacitancevoltageandcurrent—voltagemeasurement,andthermalstressanalysis,
7、itisfoundthatthe02plasmasurfacetreatmentofSiCOHfilmsCanleadtothedecreaseof。leakagecurrent,thedecreaseofflatbandvoltageshift△‰,andtheincreaseofactivationenergy既ThesmallA咋BandlowerleakagecurrentindicatetheweakCudiffusionTh
溫馨提示
- 1. 本站所有資源如無(wú)特殊說(shuō)明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請(qǐng)下載最新的WinRAR軟件解壓。
- 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請(qǐng)聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶(hù)所有。
- 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁(yè)內(nèi)容里面會(huì)有圖紙預(yù)覽,若沒(méi)有圖紙預(yù)覽就沒(méi)有圖紙。
- 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
- 5. 眾賞文庫(kù)僅提供信息存儲(chǔ)空間,僅對(duì)用戶(hù)上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護(hù)處理,對(duì)用戶(hù)上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對(duì)任何下載內(nèi)容負(fù)責(zé)。
- 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容,請(qǐng)與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
- 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時(shí)也不承擔(dān)用戶(hù)因使用這些下載資源對(duì)自己和他人造成任何形式的傷害或損失。
最新文檔
- 多孔SiOCH薄膜的O等離子體表面處理研究.pdf
- 光譜解析低溫等離子體中O-,2-,N-,2-,CO-,2-的活性中間體及其環(huán)境化學(xué)行為.pdf
- 等離子體脫除NO-,2-試驗(yàn)研究.pdf
- 等離子體薄膜表面制造中的偏壓效應(yīng)研究.pdf
- 等離子體輔助電子束蒸發(fā)沉積N摻雜TiO-,2-薄膜及等離子體參數(shù)診斷與研究.pdf
- 等離子體浸沒(méi)注入對(duì)Ta薄膜的改性及Cu-Ta-X-SiO-,2-體系失效機(jī)理的研究.pdf
- 微波等離子體及其功能薄膜沉積.pdf
- 2.空間等離子體
- 腈綸等離子體抗靜電處理.pdf
- 吸附-等離子體氣體NO-SO-,2-轉(zhuǎn)化研究.pdf
- TiO2改性和等離子體處理α--Fe2O3薄膜的光電化學(xué)性質(zhì).pdf
- 電暈放電等離子體脫除煙氣中SO-,2-的實(shí)驗(yàn)研究.pdf
- 常壓低溫等離子體沉積多孔硅基納米顆粒薄膜的過(guò)程研究.pdf
- 等離子體基礎(chǔ)構(gòu)件及等離子體天線(xiàn)的研究.pdf
- 表面等離子體在信息處理中的應(yīng)用.pdf
- 大面積薄膜材料等離子體處理關(guān)鍵技術(shù)的研究.pdf
- SiCOH薄膜的雙頻等離子體刻蝕研究.pdf
- CHF-,3-等離子體處理對(duì)SiCOH薄膜性能的影響.pdf
- 等離子體及等離子體覆蓋物體的電磁特性研究.pdf
- N-,2--O-,2-雙頻容性耦合等離子體的流體力學(xué)模擬.pdf
評(píng)論
0/150
提交評(píng)論