電極面積對(duì)電化學(xué)噪聲的影響.pdf

1、腐蝕電化學(xué)噪聲是腐蝕系統(tǒng)產(chǎn)生的一種電流、電位隨機(jī)自發(fā)波動(dòng)的現(xiàn)象。電化學(xué)噪聲測(cè)試技術(shù)是一種原位、無損的金屬腐蝕監(jiān)測(cè)技術(shù)，現(xiàn)已逐漸成為腐蝕研究的重要手段之一，并得到日益廣泛的應(yīng)用。本文選擇A3鋼電極及中性NaCl溶液體系、NaHCO3＋NaCl點(diǎn)蝕體系、NaNO2+NaCl的緩蝕體系，通過電化學(xué)噪聲測(cè)量和多種噪聲數(shù)據(jù)分析方法，研究了電極面積對(duì)電化學(xué)噪聲的影響，主要結(jié)果如下：
　　 (1)A3鋼電極在中性的NaCl溶液體系中，電流電位

2、噪聲的標(biāo)準(zhǔn)偏差σi、σv與電極面積S的關(guān)系為：lgσi=0.465lg S-6.0421；lgσv=-0.225lg S-3.373。噪聲電阻Rn與面積的關(guān)系：lgRn=-0.686lg S+2.9525，且噪聲電阻Rn、電荷轉(zhuǎn)移電阻Rt、線性極化電阻Rp隨面積的變化的趨勢(shì)相同，其值相差不大具有可比性。從高頻晶階（d1）到低頻晶階(d8)電位的相對(duì)能量呈現(xiàn)出先減小后增大，且電極面積越大，各晶階相對(duì)能量的最小值有從高頻向中頻移動(dòng)的趨勢(shì)。<

3、br>　　 (2)在NaHCO3＋Cl－點(diǎn)蝕體系中，電流電位噪聲的標(biāo)準(zhǔn)偏差σi、σv與電極面積S的關(guān)系為：lgσi=1.9481lg S-8.604；lgσv=0.2461lg S-3.264。噪聲電阻與面積的關(guān)系：lgRn=-1.591lg S+5.272。電極面積對(duì)鈍化狀態(tài)及點(diǎn)蝕產(chǎn)生的幾率有影響，同樣的鈍化時(shí)間內(nèi)，面積越大可能鈍化狀態(tài)越差，點(diǎn)蝕產(chǎn)生的幾率高。從高頻晶階（d1）到低頻晶階（d8）電位能量分布大面積電極較小面積電極的各

4、晶階能量分布更均勻。
　　 (3)對(duì)于兩不對(duì)稱電極在NaHCO3＋Cl－點(diǎn)蝕體系中的EN測(cè)試，浸泡后期大面積探頭出現(xiàn)陽極電流，出現(xiàn)點(diǎn)蝕坑，小面積沒被腐蝕。用傳統(tǒng)方法（標(biāo)準(zhǔn)偏差、噪聲電阻）分析未得出規(guī)律性的結(jié)論。用于處理不對(duì)稱電極的電化學(xué)噪聲方法有待于進(jìn)一步研究。
　　 (4)在緩蝕體系中，電化學(xué)噪聲電阻Rn同用LPR與EIS測(cè)試得到的Rp、Rt具有對(duì)應(yīng)性，三種方法得到的緩蝕率的變化范圍相當(dāng)，Rn可用于緩蝕性能的判別。EN