基于紫外檢測(cè)技術(shù)的絕緣子電暈放電特性研究.pdf

1、紫外檢測(cè)技術(shù)作為一種高電壓設(shè)備絕緣狀態(tài)檢測(cè)的新技術(shù)，在電力系統(tǒng)高壓檢測(cè)領(lǐng)域的應(yīng)用日益普遍。論文結(jié)合廣州電科院“高壓輸變電設(shè)備紫外典型圖譜庫(kù)建立及電暈紫外檢測(cè)定量化研究”項(xiàng)目對(duì)影響紫外檢測(cè)技術(shù)的因素進(jìn)行研究分析，論文主要研究?jī)?nèi)容如下:
　　論文介紹了紫外檢測(cè)技術(shù)的發(fā)展及原理和電暈放電的相關(guān)知識(shí)。通過(guò)針-板電極電暈放電實(shí)驗(yàn)和故障絕緣子放電實(shí)驗(yàn)對(duì)比得知:紫外設(shè)備光子計(jì)數(shù)率受增益、檢測(cè)距離、溫濕度觀察角度等不同因素的影響，其中增益、檢測(cè)距

2、離對(duì)光子計(jì)數(shù)率的影響尤為明顯。筆者采用有限元法對(duì)220kV玻璃絕緣子周圍的電場(chǎng)進(jìn)行分析，得出劣質(zhì)絕緣子在絕緣子串不同位置時(shí)對(duì)其周圍的電場(chǎng)影響。為使紫外光子計(jì)數(shù)率有一定的量化標(biāo)準(zhǔn)，本文對(duì)絕緣子毛刺周圍的電場(chǎng)進(jìn)行仿真，得出不同電壓下毛刺周圍電場(chǎng)的大小，其電場(chǎng)大小與實(shí)驗(yàn)時(shí)不同電壓下光子計(jì)數(shù)率進(jìn)行對(duì)比，得出其對(duì)應(yīng)關(guān)系。
　　試驗(yàn)研究表明:紫外檢測(cè)技術(shù)作為電力系統(tǒng)中一種新的非電量檢測(cè)技術(shù)有著很大的應(yīng)用價(jià)值，其檢測(cè)時(shí)具有方便、便捷、直觀且不影